一种用于集成电路测试的FPGA配置系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510437304.9

申请日：

2015-07-23

公开(公告)号：

CN104965168B

公开(公告)日：

2015-10-07

发明(设计)人：

李泳明袁琰陈良

申请人：

申请人地址：

100070 北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R313185

代理机构：

北京国林贸知识产权代理有限公司 11001

代理人：

李桂玲;杜国庆

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-05	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:专利权人变更前:北京华峰测控技术有限公司变更后:北京华峰测控技术股份有限公司变更事项:地址变更前:100070 北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层变更后:100070 北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层
2017-11-10	授权	授权
2015-10-07	公开	公开
2015-11-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101634078457 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2015104373049 申请日:20150723

共 50 条

[1]

一种用于集成电路测试的FPGA配置系统 [P].

李泳明 ;

袁琰 ;

陈良 .

中国专利 :CN204789920U ,2015-11-18

[2]

集成电路及用于测试集成电路的方法 [P].

克莱夫·大卫·比特尔斯通 .

中国专利 :CN104777414A ,2015-07-15

[3]

一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 [P].

丁盛峰 ;

李志浩 ;

阮辉 .

中国专利 :CN118112397A ,2024-05-31

[4]

集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02

[5]

一种集成电路测试系统及方法 [P].

蔡建荣 ;

邱忠文 ;

罗俊 ;

吴兆希 ;

王翔 .

中国专利 :CN112485653A ,2021-03-12

[6]

用于测试集成电路的方法及系统 [P].

撒母耳·夏布尤 ;

安东尼·莫瑞 ;

尚帕斯卡·玛朗宁奇 .

中国专利 :CN113687208A ,2021-11-23

[7]

一种基于FPGA的集成电路测试系统以及方法 [P].

张竣昊 ;

王啸卿 ;

孙碧垚 ;

魏江杰 .

中国专利 :CN115825693B ,2025-10-03

[8]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[9]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

顾良波 ;

张志勇 ;

余琨 ;

王锦 ;

叶建明 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07

[10]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

朱本强 .

中国专利 :CN110780184A ,2020-02-11

← 1 2 3 4 5 →