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一种用于贴片芯片测试的治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821361945.6
申请日
:
2018-08-22
公开(公告)号
:
CN208984712U
公开(公告)日
:
2019-06-14
发明(设计)人
:
廖明梭
申请人
:
申请人地址
:
518105 广东省深圳市宝安区福永白石厦工业东区华南路48号三楼
IPC主分类号
:
G01R2702
IPC分类号
:
代理机构
:
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
:
王国标
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-06-14
授权
授权
2021-07-30
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20180822 授权公告日:20190614 终止日期:20200822
共 50 条
[1]
芯片测试治具
[P].
何正鸿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
何正鸿
;
陶毅
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
陶毅
;
陈泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
陈泽
;
宋祥祎
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
甬矽半导体(宁波)有限公司
甬矽半导体(宁波)有限公司
宋祥祎
.
中国专利
:CN220709213U
,2024-04-02
[2]
一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备
[P].
文根发
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
文根发
;
金鹏
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
金鹏
.
中国专利
:CN118980913A
,2024-11-19
[3]
一种芯片功能测试治具
[P].
董怡兰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
董怡兰
.
中国专利
:CN212872767U
,2021-04-02
[4]
一种Vcsel芯片测试治具
[P].
刘金杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘金杰
;
廖茂密
论文数:
0
引用数:
0
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0
廖茂密
.
中国专利
:CN215728322U
,2022-02-01
[5]
一种射频测试系统的芯片测试治具
[P].
黄哲尔
论文数:
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引用数:
0
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0
黄哲尔
;
沈义明
论文数:
0
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0
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0
沈义明
;
韦宗专
论文数:
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引用数:
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韦宗专
.
中国专利
:CN215575221U
,2022-01-18
[6]
一种防静电的芯片测试治具
[P].
许元君
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州锜庆精密电子有限公司
苏州锜庆精密电子有限公司
许元君
.
中国专利
:CN223197531U
,2025-08-08
[7]
一种芯片测试治具
[P].
谢登煌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
谢登煌
;
卢浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
卢浩
.
中国专利
:CN119511054A
,2025-02-25
[8]
一种芯片测试治具
[P].
谢登煌
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
谢登煌
;
卢浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
卢浩
.
中国专利
:CN119511054B
,2025-05-13
[9]
一种芯片测试治具
[P].
段源鸿
论文数:
0
引用数:
0
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0
段源鸿
;
杨天应
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨天应
.
中国专利
:CN214845639U
,2021-11-23
[10]
一种芯片模拟按压测试治具
[P].
陈宗廷
论文数:
0
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0
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陈宗廷
;
陈建光
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈建光
.
中国专利
:CN217305424U
,2022-08-26
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