一种用于贴片芯片测试的治具

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专利类型
实用新型
申请号
CN201821361945.6
申请日
2018-08-22
公开(公告)号
CN208984712U
公开(公告)日
2019-06-14
发明(设计)人
廖明梭
申请人
申请人地址
518105 广东省深圳市宝安区福永白石厦工业东区华南路48号三楼
IPC主分类号
G01R2702
IPC分类号
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
王国标
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试治具 [P]. 
何正鸿 ;
陶毅 ;
陈泽 ;
宋祥祎 .
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[2]
一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备 [P]. 
文根发 ;
金鹏 .
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[3]
一种芯片功能测试治具 [P]. 
董怡兰 .
中国专利 :CN212872767U ,2021-04-02
[4]
一种Vcsel芯片测试治具 [P]. 
刘金杰 ;
廖茂密 .
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[5]
一种射频测试系统的芯片测试治具 [P]. 
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沈义明 ;
韦宗专 .
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[6]
一种防静电的芯片测试治具 [P]. 
许元君 .
中国专利 :CN223197531U ,2025-08-08
[7]
一种芯片测试治具 [P]. 
谢登煌 ;
卢浩 .
中国专利 :CN119511054A ,2025-02-25
[8]
一种芯片测试治具 [P]. 
谢登煌 ;
卢浩 .
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[9]
一种芯片测试治具 [P]. 
段源鸿 ;
杨天应 .
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[10]
一种芯片模拟按压测试治具 [P]. 
陈宗廷 ;
陈建光 .
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