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EUV光刻的光学布置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201380006839.X
申请日
:
2013-01-14
公开(公告)号
:
CN104081284A
公开(公告)日
:
2014-10-01
发明(设计)人
:
N.贝尔
T.格鲁纳
U.洛林
申请人
:
申请人地址
:
德国上科亨
IPC主分类号
:
G03F720
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
邱军
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-10-01
公开
公开
2015-02-25
实质审查的生效
实质审查的生效 专利申请号:201380006839X 申请日:20130114 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101599312597 IPC(主分类):G03F 7/20
2017-07-04
授权
授权
共 50 条
[1]
用于EUV光刻的投射曝光设备中的光学布置
[P].
V.库利特斯基
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V.库利特斯基
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B.盖尔里奇
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B.盖尔里奇
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S.泽尔特
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S.泽尔特
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关彦彬
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关彦彬
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P.德费尔
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P.德费尔
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A.沃姆布兰德
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A.沃姆布兰德
.
中国专利
:CN105137718A
,2015-12-09
[2]
用于EUV光刻的投射曝光设备中的光学布置
[P].
V.库利特斯基
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V.库利特斯基
;
B.盖尔里奇
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B.盖尔里奇
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S.泽尔特
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S.泽尔特
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关彦彬
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关彦彬
;
P.德费尔
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P.德费尔
;
A.沃姆布兰德
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A.沃姆布兰德
.
中国专利
:CN102549503A
,2012-07-04
[3]
用于EUV光刻的光学配置
[P].
A.冈查尔
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A.冈查尔
.
中国专利
:CN111886547A
,2020-11-03
[4]
用于EUV光刻的光学配置
[P].
A.冈查尔
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机构:
卡尔蔡司SMT有限责任公司
卡尔蔡司SMT有限责任公司
A.冈查尔
.
德国专利
:CN111886547B
,2024-08-13
[5]
修复EUV光刻的反射光学元件的方法
[P].
R.迈耶
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R.迈耶
;
H.基利
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H.基利
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C.雅利奇
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C.雅利奇
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E.伊娃
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E.伊娃
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R.温特
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R.温特
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A.施密特纳
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A.施密特纳
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A.库兹涅佐夫
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A.库兹涅佐夫
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V.斯洛弗
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V.斯洛弗
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C.诺特波姆
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C.诺特波姆
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W.默克尔
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W.默克尔
.
中国专利
:CN110050310A
,2019-07-23
[6]
EUV光刻掩膜版
[P].
王光荣
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王光荣
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李建新
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李建新
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巫奉伦
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巫奉伦
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夏忠平
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夏忠平
.
中国专利
:CN216434662U
,2022-05-03
[7]
制造用于EUV光刻的反射光学元件的方法
[P].
A.库兹尼佐夫
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A.库兹尼佐夫
;
M.格里森
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M.格里森
;
R.W.E.范德克鲁杰斯
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R.W.E.范德克鲁杰斯
;
F.比杰科克
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F.比杰科克
.
中国专利
:CN103635974A
,2014-03-12
[8]
反射式光学元件和EUV光刻的光学系统
[P].
C.诺特伯姆
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C.诺特伯姆
.
中国专利
:CN108496116B
,2018-09-04
[9]
EUV光刻装置及用于处理光学元件的方法
[P].
沃尔夫冈·辛格
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沃尔夫冈·辛格
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关彦彬
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关彦彬
;
斯蒂芬-沃尔夫冈·施米特
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斯蒂芬-沃尔夫冈·施米特
;
德克·H·埃姆
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德克·H·埃姆
;
迪特尔·克劳斯
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迪特尔·克劳斯
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斯蒂芬·威斯纳
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斯蒂芬·威斯纳
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斯蒂芬·凯勒
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斯蒂芬·凯勒
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阿尔穆特·查普
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阿尔穆特·查普
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钟显耀
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钟显耀
.
中国专利
:CN102187281B
,2011-09-14
[10]
延长EUV光刻系统中的光学元件的使用寿命
[P].
马悦
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马悦
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A·T·W·肯彭
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A·T·W·肯彭
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K·M·休姆勒
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J·H·J·穆尔斯
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J·H·J·穆尔斯
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J·H·罗梅斯
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J·H·罗梅斯
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A·D·拉弗格
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A·D·拉弗格
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F·布里祖拉
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F·布里祖拉
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E·内达诺维斯卡
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C·科科玛兹
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A·D·金
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H·A·L·范迪杰克
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W·P·范德伦特
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P·G·琼克斯
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P·G·琼克斯
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朱秋石
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朱秋石
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P·雅格霍比
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P·雅格霍比
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J·S·C·韦斯特拉肯
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M·H·A·里恩德斯
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M·H·A·里恩德斯
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A·I·厄肖夫
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I·V·福门科夫
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刘飞
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ASML荷兰有限公司
刘飞
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J·H·W·雅各布斯
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A·S·库兹内特索夫
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:CN111837076B
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