一种集成电路芯片的检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201911212521.2
申请日
2019-12-02
公开(公告)号
CN110749757A
公开(公告)日
2020-02-04
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
312500 浙江省绍兴市新昌县羽林街道新富村大庄24号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
金华大器专利代理事务所(特殊普通合伙) 33345
代理人
童健
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路芯片的检测装置 [P]. 
詹安娜 ;
黄巧芳 .
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[2]
一种集成电路芯片的外观检测装置 [P]. 
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[3]
一种集成电路芯片温度检测装置 [P]. 
连泽亮 .
中国专利 :CN215527718U ,2022-01-14
[4]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
李风浪 ;
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[5]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
华文强 ;
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[6]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
高莎莎 ;
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[7]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
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[8]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
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[9]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
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[10]
一种集成电路芯片检测装置 [P]. 
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