半导体器件及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201611208573.9
申请日
2016-12-23
公开(公告)号
CN108238581A
公开(公告)日
2018-07-03
发明(设计)人
伏广才
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
B81B700
IPC分类号
B81C100
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
徐文欣;吴敏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
伏广才 ;
张先明 ;
刘庆鹏 .
中国专利 :CN104743504B ,2015-07-01
[2]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
宁先捷 .
中国专利 :CN104752422A ,2015-07-01
[3]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵猛 .
中国专利 :CN104701163B ,2015-06-10
[4]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵猛 .
中国专利 :CN105448723A ,2016-03-30
[5]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
刘金华 .
中国专利 :CN104752205B ,2015-07-01
[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103426755A ,2013-12-04
[7]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
刘金华 .
中国专利 :CN105336793B ,2016-02-17
[8]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN113937162B ,2024-07-16
[9]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN110021662B ,2019-07-16
[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵杰 .
中国专利 :CN106469652B ,2017-03-01