水平入口半导体光检测器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN01813074.7

申请日：

2001-05-18

公开(公告)号：

CN1443312A

公开(公告)日：

2003-09-17

发明(设计)人：

D·C·W·赫尔伯特 D·R·维特 E·T·R·基德利 R·T·卡林 W·Y·梁 D·J·罗宾斯 J·M·赫顿

申请人：

申请人地址：

英国伦敦

IPC主分类号：

G02F101

IPC分类号：

H01S510 H01L310352

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

肖春京;黄力行

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-09-17	公开	公开
2005-06-15	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2003-12-03	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

半导体光检测器 [P].

薄田学 ;

广濑裕 ;

加藤刚久 ;

寺西信一 .

中国专利 :CN104885222A ,2015-09-02

[2]

半导体光检测器 [P].

潘锡明 ;

简奉任 .

中国专利 :CN1787219A ,2006-06-14

[3]

半导体装置和光检测器 [P].

大理洋征龙 ;

服部浩之 .

日本专利 :CN118160102A ,2024-06-07

[4]

半导体光位置检测器及半导体光位置检测器阵列 [P].

田口桂基 ;

石原兆 .

日本专利 :CN120958980A ,2025-11-14

[5]

包括光检测器的半导体结构和形成光检测器的方法 [P].

洪志明 ;

王子睿 ;

黄冠杰 ;

施俊吉 .

中国专利 :CN113380845A ,2021-09-10

[6]

包括光检测器的半导体结构和形成光检测器的方法 [P].

洪志明 ;

王子睿 ;

黄冠杰 ;

施俊吉 .

中国专利 :CN113380845B ,2025-11-11

[7]

半导体光检测器的制作方法 [P].

新垣実 ;

中嶋和利 .

中国专利 :CN1221037C ,2004-03-03

[8]

光检测器 [P].

武田浩太郎 ;

那须悠介 .

日本专利 :CN112154545B ,2024-06-25

[9]

光检测器 [P].

武田浩太郎 ;

那须悠介 .

中国专利 :CN112154545A ,2020-12-29

[10]

半导体辐射检测器 [P].

汉斯·安德森 .

中国专利 :CN110462443A ,2019-11-15

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