一种半导体检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202022454585.8
申请日
2020-10-29
公开(公告)号
CN213516929U
公开(公告)日
2021-06-22
发明(设计)人
罗建华
申请人
申请人地址
518107 广东省深圳市光明区光明街道碧眼社区华强创意公园5栋B座0402
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
G01N2188
代理机构
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268
代理人
朱阳波
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
半导体检测装置 [P]. 
余宏 .
中国专利 :CN206892268U ,2018-01-16
[2]
一种半导体检测装置 [P]. 
王小花 .
中国专利 :CN214473491U ,2021-10-22
[3]
一种半导体检测装置 [P]. 
朴佳奇 .
中国专利 :CN221238990U ,2024-06-28
[4]
一种半导体检测装置 [P]. 
刘理金 .
中国专利 :CN216595383U ,2022-05-24
[5]
一种半导体检测装置 [P]. 
王垚森 .
中国专利 :CN216160766U ,2022-04-01
[6]
一种半导体检测装置 [P]. 
陈华 .
中国专利 :CN208888337U ,2019-05-21
[7]
一种半导体检测装置 [P]. 
赵强 ;
张静 .
中国专利 :CN213825985U ,2021-07-30
[8]
一种半导体检测装置 [P]. 
陈宏成 ;
沈震 .
中国专利 :CN221631489U ,2024-08-30
[9]
一种半导体检测装置 [P]. 
周脉强 .
中国专利 :CN220691004U ,2024-03-29
[10]
一种半导体检测装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN205333836U ,2016-06-22