半导体结构及其形成方法

被引:0
申请号
CN202110287710.7
申请日
2021-03-17
公开(公告)号
CN115117057A
公开(公告)日
2022-09-27
发明(设计)人
田震 董耀旗 黄达
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号
IPC主分类号
H01L27092
IPC分类号
H01L218238
代理机构
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
高静
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN111293118A ,2020-06-16
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
徐建华 ;
王安妮 ;
何* ;
杨小军 .
中国专利 :CN108155235A ,2018-06-12
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张丽杰 .
中国专利 :CN109037306A ,2018-12-18
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN106328650A ,2017-01-11
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
林静 ;
禹国宾 .
中国专利 :CN107180750A ,2017-09-19
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
徐建华 .
中国专利 :CN108074815B ,2018-05-25
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN110400746B ,2019-11-01
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN108122852B ,2018-06-05
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
邓浩 ;
徐建华 .
中国专利 :CN109285879A ,2019-01-29
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
韩秋华 ;
吴端毅 .
中国专利 :CN109285811B ,2019-01-29