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一种半导体芯片测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020218512.6
申请日：
2020-02-27
公开(公告)号：
CN211785941U
公开(公告)日：
2020-10-27
发明(设计)人：
彭赛
崔会旺
申请人：
申请人地址：
314100 浙江省嘉兴市嘉善县惠民街道惠民大道383号3号楼1层101室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
上海微策知识产权代理事务所(普通合伙) 31333
代理人：
汤俊明
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-10-27 | 授权 | 授权 |