一种半导体芯片测试装置

被引：0

申请号：

CN202221973277.9

申请日：

2022-07-28

公开(公告)号：

CN218445816U

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

李昌炼杨胜利

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

H01L2334 H01L2338

代理机构：

北京正理专利代理有限公司 11257

代理人：

王喆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体芯片测试装置 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN221977043U ,2024-11-08

[2]

半导体芯片测试装置 [P].

桂义勇 ;

张伟祥 .

中国专利 :CN121178458A ,2025-12-23

[3]

半导体芯片测试装置 [P].

高宗英 ;

周勇华 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204359904U ,2015-05-27

[4]

一种半导体芯片测试装置 [P].

高新华 .

中国专利 :CN203909230U ,2014-10-29

[5]

一种半导体芯片测试装置 [P].

张治强 .

中国专利 :CN220855087U ,2024-04-26

[6]

一种半导体芯片测试装置 [P].

彭赛 ;

崔会旺 .

中国专利 :CN211785941U ,2020-10-27

[7]

一种半导体芯片测试装置 [P].

张洪梅 .

中国专利 :CN216285578U ,2022-04-12

[8]

一种半导体芯片测试装置 [P].

梅小杰 ;

林河北 ;

杨东霓 ;

杜永琴 ;

沈元信 .

中国专利 :CN214953912U ,2021-11-30

[9]

半导体芯片用测试装置 [P].

李江波 ;

张成 ;

姚燕杰 ;

王丽 ;

位贤龙 .

中国专利 :CN218003625U ,2022-12-09

[10]

一种功率半导体芯片测试装置 [P].

肖彦 ;

汝严 ;

吴拥军 .

中国专利 :CN204389638U ,2015-06-10

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