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一种双重下压微波标贴芯片测试夹具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820129727.3
申请日
:
2018-01-26
公开(公告)号
:
CN208013246U
公开(公告)日
:
2018-10-26
发明(设计)人
:
李恩
张云鹏
周扬
高勇
申请人
:
申请人地址
:
611731 四川省成都市高新区(西区)西芯大道4号创新中心A108号
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-10-26
授权
授权
共 50 条
[1]
一种双重下压微波标贴芯片测试夹具
[P].
李恩
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李恩
;
张云鹏
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张云鹏
;
周扬
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周扬
;
高勇
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高勇
.
中国专利
:CN110082569A
,2019-08-02
[2]
一种微波芯片测试夹具系统
[P].
王明福
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王明福
.
中国专利
:CN207336579U
,2018-05-08
[3]
一种存储芯片测试夹具
[P].
丛维
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丛维
;
金生
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金生
.
中国专利
:CN212060331U
,2020-12-01
[4]
一种存储芯片测试夹具
[P].
陈宗廷
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机构:
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
陈宗廷
;
朱放中
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机构:
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
朱放中
.
中国专利
:CN220399501U
,2024-01-26
[5]
弹簧下压型芯片测试夹具
[P].
吕耀安
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吕耀安
.
中国专利
:CN106226562A
,2016-12-14
[6]
一种芯片测试夹具
[P].
沈春福
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沈春福
;
吴飞
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吴飞
;
张荣
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张荣
;
周体志
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周体志
;
邹有彪
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邹有彪
.
中国专利
:CN209803185U
,2019-12-17
[7]
一种射频及微波芯片的测试夹具
[P].
李冉
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李冉
;
王伟旭
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王伟旭
;
黄旭
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黄旭
;
杨川
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杨川
.
中国专利
:CN206411147U
,2017-08-15
[8]
一种芯片测试用下压测试座
[P].
吴炜奇
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吴炜奇
.
中国专利
:CN217931942U
,2022-11-29
[9]
一种封装芯片测试夹具
[P].
刘强
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刘强
;
董江
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董江
;
廖强
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廖强
.
中国专利
:CN218068044U
,2022-12-16
[10]
一种芯片的测试夹具
[P].
马云龙
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马云龙
;
程莹
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程莹
.
中国专利
:CN217156577U
,2022-08-09
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