一种提取GaN HEMT器件热源模型的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110666770.X
申请日
2021-06-16
公开(公告)号
CN113505504A
公开(公告)日
2021-10-15
发明(设计)人
李姚 郑子轩 蒲红斌
申请人
申请人地址
710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号
IPC主分类号
G06F3023
IPC分类号
G06F11902 G06F11908
代理机构
西安弘理专利事务所 61214
代理人
王丹
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
AlGaN/GaN HEMT器件小信号模型提取方法 [P]. 
黄永 ;
王霄 ;
费一帆 ;
王东 .
中国专利 :CN114519275B ,2024-03-29
[2]
AlGaN/GaN HEMT器件小信号模型提取方法 [P]. 
黄永 ;
王霄 ;
费一帆 ;
王东 .
中国专利 :CN114519275A ,2022-05-20
[3]
一种GaN HEMT器件的制备方法及GaN HEMT器件 [P]. 
张晓宇 ;
岳丹诚 ;
李星齐 .
中国专利 :CN119403171A ,2025-02-07
[4]
一种GaN HEMT器件的制备方法及GaN HEMT器件 [P]. 
张晓宇 ;
岳丹诚 ;
李星齐 .
中国专利 :CN119403171B ,2025-07-22
[5]
一种GaN HEMT器件模型的建模方法 [P]. 
刘贵鹏 ;
周子维 ;
赵桂娟 .
中国专利 :CN117993217B ,2024-11-05
[6]
一种GaN HEMT器件模型的建模方法 [P]. 
刘贵鹏 ;
周子维 ;
赵桂娟 .
中国专利 :CN117993217A ,2024-05-07
[7]
一种GaN HEMT器件等效电路模型的参数提取方法 [P]. 
董志华 ;
欧阳御龙 .
中国专利 :CN120087313B ,2025-11-11
[8]
一种GaN HEMT器件等效电路模型的参数提取方法 [P]. 
董志华 ;
欧阳御龙 .
中国专利 :CN120087313A ,2025-06-03
[9]
一种GaN HEMT器件的热可靠性评估方法 [P]. 
刘胜厚 ;
孟天颖 ;
卢益锋 ;
张辉 ;
蔡仙清 .
中国专利 :CN111665430A ,2020-09-15
[10]
GaN HEMT器件制备方法及GaN HEMT器件 [P]. 
李亦衡 ;
朱廷刚 ;
武乐可 ;
王强 ;
黄克强 ;
秦佳明 ;
魏鸿源 ;
夏远洋 .
中国专利 :CN116631960B ,2024-04-05