电流检测电路及半导体存储装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410466454.8

申请日：

2014-09-12

公开(公告)号：

CN104835523A

公开(公告)日：

2015-08-12

发明(设计)人：

荒川贤一

申请人：

申请人地址：

中国台湾台中市

IPC主分类号：

G11C1604

IPC分类号：

G01R1900

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

贾磊

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101624667501 IPC(主分类):G11C 16/04 专利申请号:2014104664548 申请日:20140912
2015-08-12	公开	公开
2018-08-28	授权	授权

共 50 条

[1]

电流限制电路及半导体存储装置 [P].

塚田修一 .

中国专利 :CN1897155A ,2007-01-17

[2]

半导体存储器件的电流检测电路 [P].

丁哲珉 ;

徐英豪 ;

崔镇荣 ;

林亨圭 .

中国专利 :CN1085004A ,1994-04-06

[3]

断电检测电路及半导体存储装置 [P].

须藤直昭 .

中国专利 :CN113963740A ,2022-01-21

[4]

断电检测电路及半导体存储装置 [P].

荒川贤一 .

中国专利 :CN113628660B ,2024-02-27

[5]

断电检测电路及半导体存储装置 [P].

荒川贤一 .

中国专利 :CN113628660A ,2021-11-09

[6]

断电检测电路及半导体存储装置 [P].

须藤直昭 .

中国专利 :CN113963740B ,2025-04-22

[7]

半导体集成电路及半导体存储装置 [P].

清水优 ;

井上谕 ;

藤沢公 ;

高田由美 .

中国专利 :CN113658621A ,2021-11-16

[8]

半导体集成电路及半导体存储装置 [P].

清水优 ;

井上谕 ;

藤沢公 ;

高田由美 .

日本专利 :CN113658621B ,2024-04-12

[9]

半导体存储装置的输入电路 [P].

山冈茂 ;

池田丰 .

中国专利 :CN1101081C ,1997-12-03

[10]

电流检测电路、半导体器件和半导体系统 [P].

木村圭助 ;

田岛英幸 ;

斋藤航 .

中国专利 :CN111740729A ,2020-10-02

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