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氧化镓晶片抗解理悬浮研磨液及其制备方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510658056.0
申请日
:
2015-10-14
公开(公告)号
:
CN105273638A
公开(公告)日
:
2016-01-27
发明(设计)人
:
周海
徐晓明
龚凯
申请人
:
申请人地址
:
224051 江苏省盐城市亭湖区希望大道中路1号
IPC主分类号
:
C09G102
IPC分类号
:
代理机构
:
南京经纬专利商标代理有限公司 32200
代理人
:
杨海军
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-01-27
公开
公开
2017-08-29
授权
授权
2016-02-24
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101647683427 IPC(主分类):C09G 1/02 专利申请号:2015106580560 申请日:20151014
共 50 条
[1]
氧化镓晶片抗解理抛光液及其制备方法
[P].
周海
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周海
;
徐晓明
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徐晓明
;
龚凯
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龚凯
.
中国专利
:CN105153943B
,2015-12-16
[2]
一种氧化镓晶片精细研磨液及其制备方法
[P].
陈政委
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陈政委
;
赵德刚
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赵德刚
;
范钦明
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范钦明
.
中国专利
:CN112322256A
,2021-02-05
[3]
一种易解理氧化镓晶片化学机械抛光工艺、抛光液及其制备方法
[P].
周海
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周海
;
蒋网
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蒋网
;
徐亚萌
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徐亚萌
;
任相璞
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任相璞
;
计健
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计健
.
中国专利
:CN114231182A
,2022-03-25
[4]
适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的高效低损伤研磨方法
[P].
徐晓明
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徐晓明
;
周海
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周海
;
黄传锦
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黄传锦
;
徐彤彤
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徐彤彤
;
夏斯伟
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夏斯伟
;
龚凯
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龚凯
.
中国专利
:CN106711032B
,2017-05-24
[5]
用于氮化镓半导体晶片的研磨液及其制备方法
[P].
曹蕊
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曹蕊
.
中国专利
:CN106244022A
,2016-12-21
[6]
一种氧化镓晶片防解理的边缘磨削方法
[P].
张弛
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
张弛
;
李晖
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
李晖
;
霍晓青
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
霍晓青
;
高飞
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
高飞
;
王磊
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
王磊
;
张胜男
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
张胜男
;
高鹏程
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
高鹏程
;
王淳
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
王淳
;
李响
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机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
李响
.
中国专利
:CN114161258B
,2024-08-27
[7]
一种氧化镓晶片防解理的边缘磨削方法
[P].
张弛
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张弛
;
李晖
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李晖
;
霍晓青
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霍晓青
;
高飞
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高飞
;
王磊
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王磊
;
张胜男
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张胜男
;
高鹏程
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高鹏程
;
王淳
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王淳
;
李响
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李响
.
中国专利
:CN114161258A
,2022-03-11
[8]
适合氧化镓衬底基片抛光的专用抛光液及其制备方法
[P].
黄传锦
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黄传锦
;
周海
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周海
;
顾斌
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顾斌
;
刘道标
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刘道标
;
惠学芹
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惠学芹
;
吴进
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吴进
.
中国专利
:CN105038606A
,2015-11-11
[9]
一种氧化镓晶片表面处理方法
[P].
张辉
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张辉
;
刘莹莹
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刘莹莹
;
金竹
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金竹
;
夏宁
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夏宁
;
马可可
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马可可
;
杨德仁
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杨德仁
.
中国专利
:CN114262940B
,2022-04-01
[10]
一种用于砷化镓晶片的抛光液及其制备方法
[P].
仲跻和
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仲跻和
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中国专利
:CN101081966A
,2007-12-05
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