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形成半导体装置的方法
被引:0
申请号
:
CN202210152792.9
申请日
:
2022-02-18
公开(公告)号
:
CN115394633A
公开(公告)日
:
2022-11-25
发明(设计)人
:
张競予
陈哲明
李资良
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
IPC主分类号
:
H01L21027
IPC分类号
:
H01L21033
H01L21768
代理机构
:
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
:
徐金国
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/027 申请日:20220218
2022-11-25
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体装置及形成半导体装置的方法
[P].
卢琳蓁
论文数:
0
引用数:
0
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0
卢琳蓁
;
辛格·古尔巴格
论文数:
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辛格·古尔巴格
;
蔡宗翰
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蔡宗翰
;
王柏仁
论文数:
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0
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0
王柏仁
.
中国专利
:CN113206086A
,2021-08-03
[2]
半导体装置及形成半导体装置的方法
[P].
卢琳蓁
论文数:
0
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0
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0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
卢琳蓁
;
辛格·古尔巴格
论文数:
0
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0
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0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
辛格·古尔巴格
;
蔡宗翰
论文数:
0
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0
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0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
蔡宗翰
;
王柏仁
论文数:
0
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0
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0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
王柏仁
.
中国专利
:CN113206086B
,2025-10-21
[3]
形成半导体装置的方法
[P].
W-J·齐
论文数:
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W-J·齐
;
J·G·培勒因
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J·G·培勒因
;
W·G·恩
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W·G·恩
;
M·W·迈克尔
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0
M·W·迈克尔
;
D·A·陈
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D·A·陈
.
中国专利
:CN100367470C
,2005-04-13
[4]
形成半导体装置结构的方法
[P].
卢超群
论文数:
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0
机构:
钰创科技股份有限公司
钰创科技股份有限公司
卢超群
.
中国专利
:CN120129299A
,2025-06-10
[5]
半导体装置的形成方法
[P].
蒋汝平
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蒋汝平
;
谢荣源
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谢荣源
;
黄智超
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黄智超
.
中国专利
:CN103633031B
,2014-03-12
[6]
半导体装置及其形成的方法
[P].
何宜臻
论文数:
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何宜臻
;
张怡婷
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张怡婷
;
谭伦光
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谭伦光
;
林千
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林千
.
中国专利
:CN114927475A
,2022-08-19
[7]
半导体装置与形成半导体装置的方法
[P].
林志翰
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林志翰
;
张哲诚
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张哲诚
;
曾鸿辉
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0
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0
曾鸿辉
.
中国专利
:CN107026119B
,2017-08-08
[8]
形成半导体装置的方法和半导体装置
[P].
魏正禹
论文数:
0
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
魏正禹
;
林政颐
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
林政颐
;
陈书涵
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
陈书涵
;
徐志安
论文数:
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
徐志安
.
中国专利
:CN121057241A
,2025-12-02
[9]
半导体装置及形成半导体装置的方法
[P].
林彦伯
论文数:
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林彦伯
;
李威养
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李威养
;
彭远清
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彭远清
;
林家彬
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林家彬
;
郭俊铭
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郭俊铭
.
中国专利
:CN113314468A
,2021-08-27
[10]
半导体装置与形成半导体装置的方法
[P].
林志翰
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林志翰
;
张哲诚
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张哲诚
;
曾鸿辉
论文数:
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曾鸿辉
.
中国专利
:CN107026194A
,2017-08-08
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