光学检测方法和光学检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110544565.6

申请日：

2021-05-19

公开(公告)号：

CN113702949A

公开(公告)日：

2021-11-26

发明(设计)人：

H·范德布洛克

申请人：

申请人地址：

比利时特森德洛

IPC主分类号：

G01S7495

IPC分类号：

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

任曼怡;黄嵩泉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-26	公开	公开

共 50 条

[1]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

美国专利 :CN111323386B ,2024-04-19

[2]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

中国专利 :CN111323386A ,2020-06-23

[3]

光学检测装置和检测方法 [P].

张仁淙 .

中国专利 :CN1796987A ,2006-07-05

[4]

光学检测装置、光学检测方法与光学检测系统 [P].

王亮舒 ;

杜明达 .

中国专利 :CN106546535A ,2017-03-29

[5]

光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P].

安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;

徐敏堂 ;

陆家樑 ;

方志恒 .

中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07

[6]

光学检测模组、光学检测装置、以及光学检测方法 [P].

黎育腾 ;

曲昌盛 ;

贺培诚 ;

何贯睿 ;

钟双兆 ;

范植训 ;

陈治诚 .

中国专利 :CN106053349A ,2016-10-26

[7]

光学检测方法、光学检测装置以及光学检测系统 [P].

朱嘉 ;

何涛 ;

吴欢欢 .

中国专利 :CN106198567A ,2016-12-07

[8]

光学检测装置、光学检测方法、用于光学检测的装置 [P].

郭德银 ;

龚海 ;

高涵 ;

刘进 ;

陈飞跃 ;

李青岩 ;

陈俊秀 .

中国专利 :CN117969526A ,2024-05-03

[9]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

[10]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

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