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光学检测方法和光学检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110544565.6
申请日
:
2021-05-19
公开(公告)号
:
CN113702949A
公开(公告)日
:
2021-11-26
发明(设计)人
:
H·范德布洛克
申请人
:
申请人地址
:
比利时特森德洛
IPC主分类号
:
G01S7495
IPC分类号
:
代理机构
:
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
:
任曼怡;黄嵩泉
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-26
公开
公开
共 50 条
[41]
钙钛矿组件的光学检测装置及光学检测方法
[P].
李子佳
论文数:
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机构:
正泰新能科技股份有限公司
正泰新能科技股份有限公司
李子佳
;
孙阳
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正泰新能科技股份有限公司
正泰新能科技股份有限公司
孙阳
;
王树茂
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正泰新能科技股份有限公司
正泰新能科技股份有限公司
王树茂
;
金童
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机构:
正泰新能科技股份有限公司
正泰新能科技股份有限公司
金童
;
汪勇
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机构:
正泰新能科技股份有限公司
正泰新能科技股份有限公司
汪勇
;
杨小兵
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机构:
正泰新能科技股份有限公司
正泰新能科技股份有限公司
杨小兵
.
中国专利
:CN119164884A
,2024-12-20
[42]
一种光学检测方法、光学检测装置以及存储介质
[P].
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机构:
陈鲁
;
仇志远
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
仇志远
;
刘健鹏
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘健鹏
;
王启坤
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王启坤
;
王福旺
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王福旺
;
梁文军
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
梁文军
.
中国专利
:CN120404714A
,2025-08-01
[43]
光学检测装置及检测方法
[P].
郭京
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郭京
;
左珊
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左珊
;
魏育五
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魏育五
;
张晓杰
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张晓杰
;
郭佳
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郭佳
;
李明秋
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李明秋
;
石金贵
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石金贵
.
中国专利
:CN102156037A
,2011-08-17
[44]
基板光学检测方法及装置
[P].
张仁明
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张仁明
;
许贸雄
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许贸雄
;
曾彦声
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曾彦声
;
何国诚
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何国诚
;
杨璿
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杨璿
;
俞志杰
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俞志杰
;
沈家麟
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沈家麟
;
林瑞堉
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林瑞堉
.
中国专利
:CN101408572A
,2009-04-15
[45]
光学检测装置
[P].
柯友涛
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机构:
上海芯歌智能科技有限公司
上海芯歌智能科技有限公司
柯友涛
;
刘建
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机构:
上海芯歌智能科技有限公司
上海芯歌智能科技有限公司
刘建
.
中国专利
:CN220690024U
,2024-03-29
[46]
光学检测装置
[P].
崔学峰
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崔学峰
;
吕克振
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吕克振
.
中国专利
:CN201868399U
,2011-06-15
[47]
光学检测装置
[P].
崔学峰
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崔学峰
;
吕克振
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吕克振
.
中国专利
:CN102148132B
,2011-08-10
[48]
光学检测装置
[P].
李世民
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李世民
.
中国专利
:CN112051930A
,2020-12-08
[49]
光学检测装置
[P].
李世民
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机构:
原相科技股份有限公司
原相科技股份有限公司
李世民
.
中国专利
:CN112051930B
,2024-01-12
[50]
光学检测装置
[P].
张华林
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张华林
.
中国专利
:CN215449602U
,2022-01-07
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