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光学检测方法和光学检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110544565.6
申请日
:
2021-05-19
公开(公告)号
:
CN113702949A
公开(公告)日
:
2021-11-26
发明(设计)人
:
H·范德布洛克
申请人
:
申请人地址
:
比利时特森德洛
IPC主分类号
:
G01S7495
IPC分类号
:
代理机构
:
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
:
任曼怡;黄嵩泉
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-26
公开
公开
共 50 条
[21]
基于光学检测装置的表面检测方法和光学检测装置
[P].
葛亮
论文数:
0
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0
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葛亮
.
中国专利
:CN115684178A
,2023-02-03
[22]
光学检测装置及其检测方法
[P].
牛宝华
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牛宝华
;
苏纮仪
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苏纮仪
;
庄荣祥
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庄荣祥
.
中国专利
:CN108072613B
,2018-05-25
[23]
一种光学检测装置与光学检测方法
[P].
周明澔
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周明澔
;
刘羿辰
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刘羿辰
;
谢志永
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谢志永
;
蔡振扬
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蔡振扬
.
中国专利
:CN102854189B
,2013-01-02
[24]
一种光学检测装置及光学检测方法
[P].
刘建宏
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刘建宏
;
张乐
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张乐
;
宋志强
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宋志强
.
中国专利
:CN113933268A
,2022-01-14
[25]
一种光学检测装置及光学检测方法
[P].
颜圣佑
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颜圣佑
;
朱志飞
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朱志飞
;
郭连俊
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郭连俊
;
许玉佩
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许玉佩
.
中国专利
:CN107389696A
,2017-11-24
[26]
一种光学检测装置及光学检测方法
[P].
刘建宏
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机构:
中移物联网有限公司
中移物联网有限公司
刘建宏
;
张乐
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机构:
中移物联网有限公司
中移物联网有限公司
张乐
;
宋志强
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机构:
中移物联网有限公司
中移物联网有限公司
宋志强
.
中国专利
:CN113933268B
,2024-03-19
[27]
一种光学检测装置及光学检测方法
[P].
陆俊杰
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
陆俊杰
;
吴昌力
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聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
吴昌力
;
冯宏
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
冯宏
;
郑军
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
郑军
.
中国专利
:CN117470856A
,2024-01-30
[28]
一种光学检测装置及其光学检测方法
[P].
吴精文
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吴精文
.
中国专利
:CN111473736B
,2020-07-31
[29]
一种光学检测装置及光学检测方法
[P].
徐红星
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机构:
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
徐红星
;
姜巍
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苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
姜巍
;
张福平
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机构:
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
张福平
;
陶雷
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机构:
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
苏州思萃声光微纳技术研究所有限公司
陶雷
.
中国专利
:CN117129422B
,2024-01-30
[30]
光学检测装置和光学检测系统
[P].
寿景文
论文数:
0
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
寿景文
;
张毅
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
张毅
;
任俊
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
任俊
;
甘艳红
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
甘艳红
;
刘斯禹
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
刘斯禹
.
中国专利
:CN117805132A
,2024-04-02
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