光学检测方法和光学检测装置

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专利类型
发明
申请号
CN202110544565.6
申请日
2021-05-19
公开(公告)号
CN113702949A
公开(公告)日
2021-11-26
发明(设计)人
H·范德布洛克
申请人
申请人地址
比利时特森德洛
IPC主分类号
G01S7495
IPC分类号
代理机构
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
任曼怡;黄嵩泉
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[11]
光学检测装置及光学检测方法 [P]. 
王珂 .
中国专利 :CN109916597A ,2019-06-21
[12]
光学检测装置及光学检测方法 [P]. 
张凌宇 .
中国专利 :CN109901314A ,2019-06-18
[13]
光学检测装置及光学检测方法 [P]. 
周上杰 ;
江雅雯 .
中国专利 :CN101487934B ,2009-07-22
[14]
光学检测装置与光学检测方法 [P]. 
黄培彰 ;
余丞博 ;
林爱华 .
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[15]
一种光学检测装置和光学检测方法 [P]. 
陈鲁 ;
杨乐 ;
马砚忠 ;
张朝前 .
中国专利 :CN109084678A ,2018-12-25
[16]
一种光学检测装置和光学检测方法 [P]. 
朱昊天 .
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[17]
用于微粒的光学检测方法和光学检测装置 [P]. 
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今西慎悟 .
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[18]
一种光学检测装置和光学检测方法 [P]. 
于凯航 .
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[19]
光学检测设备和光学检测方法 [P]. 
冯子寅 ;
季敏标 .
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[20]
一种智能光学检测装置与光学检测方法 [P]. 
张瑞华 ;
罗雨洁 ;
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