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光学检测方法和光学检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110544565.6
申请日
:
2021-05-19
公开(公告)号
:
CN113702949A
公开(公告)日
:
2021-11-26
发明(设计)人
:
H·范德布洛克
申请人
:
申请人地址
:
比利时特森德洛
IPC主分类号
:
G01S7495
IPC分类号
:
代理机构
:
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
:
任曼怡;黄嵩泉
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-26
公开
公开
共 50 条
[11]
光学检测装置及光学检测方法
[P].
王珂
论文数:
0
引用数:
0
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0
王珂
.
中国专利
:CN109916597A
,2019-06-21
[12]
光学检测装置及光学检测方法
[P].
张凌宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
张凌宇
.
中国专利
:CN109901314A
,2019-06-18
[13]
光学检测装置及光学检测方法
[P].
周上杰
论文数:
0
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0
周上杰
;
江雅雯
论文数:
0
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江雅雯
.
中国专利
:CN101487934B
,2009-07-22
[14]
光学检测装置与光学检测方法
[P].
黄培彰
论文数:
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黄培彰
;
余丞博
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余丞博
;
林爱华
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0
林爱华
.
中国专利
:CN106153299A
,2016-11-23
[15]
一种光学检测装置和光学检测方法
[P].
陈鲁
论文数:
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陈鲁
;
杨乐
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杨乐
;
马砚忠
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马砚忠
;
张朝前
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张朝前
.
中国专利
:CN109084678A
,2018-12-25
[16]
一种光学检测装置和光学检测方法
[P].
朱昊天
论文数:
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0
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
朱昊天
.
中国专利
:CN117761064A
,2024-03-26
[17]
用于微粒的光学检测方法和光学检测装置
[P].
篠田昌孝
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篠田昌孝
;
今西慎悟
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今西慎悟
.
中国专利
:CN101419171B
,2009-04-29
[18]
一种光学检测装置和光学检测方法
[P].
于凯航
论文数:
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于凯航
.
中国专利
:CN110308152B
,2019-10-08
[19]
光学检测设备和光学检测方法
[P].
冯子寅
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冯子寅
;
季敏标
论文数:
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季敏标
.
中国专利
:CN114689550A
,2022-07-01
[20]
一种智能光学检测装置与光学检测方法
[P].
张瑞华
论文数:
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张瑞华
;
罗雨洁
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罗雨洁
;
张威
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张威
.
中国专利
:CN114235824A
,2022-03-25
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