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半导体元件结构的形成方法
被引:0
申请号
:
CN202210933181.8
申请日
:
2022-08-04
公开(公告)号
:
CN115498040A
公开(公告)日
:
2022-12-20
发明(设计)人
:
何彩蓉
李资良
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
IPC主分类号
:
H01L2978
IPC分类号
:
H01L21336
代理机构
:
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
:
徐金国
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-20
公开
公开
2023-01-03
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20220804
共 50 条
[1]
半导体元件的形成方法
[P].
吴旭升
论文数:
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0
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吴旭升
;
刘昌淼
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刘昌淼
;
尚慧玲
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尚慧玲
.
中国专利
:CN111128735A
,2020-05-08
[2]
半导体元件的形成方法
[P].
黄玉莲
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黄玉莲
;
罗伊辰
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罗伊辰
;
李岱庭
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李岱庭
;
李再春
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李再春
;
蔡明桓
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蔡明桓
;
傅劲逢
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傅劲逢
;
杨政桦
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杨政桦
.
中国专利
:CN108962736A
,2018-12-07
[3]
半导体结构以及半导体元件的形成方法
[P].
余振华
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余振华
;
吴俊毅
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吴俊毅
.
中国专利
:CN102254872A
,2011-11-23
[4]
半导体结构、半导体元件及其形成方法
[P].
林柏均
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林柏均
;
朱金龙
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朱金龙
.
中国专利
:CN108962855B
,2018-12-07
[5]
半导体元件、封装结构、及半导体元件的形成方法
[P].
萧义理
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萧义理
;
余振华
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余振华
;
郑心圃
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郑心圃
;
董志航
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董志航
;
魏程昶
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魏程昶
.
中国专利
:CN102148201B
,2011-08-10
[6]
测试结构、半导体元件及其形成方法
[P].
廖耕颍
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廖耕颍
;
宋至伟
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宋至伟
;
林子平
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林子平
;
董怀仁
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董怀仁
;
陈柏仁
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陈柏仁
;
吴彦柔
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吴彦柔
;
杨永隆
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杨永隆
.
中国专利
:CN115527878A
,2022-12-27
[7]
半导体元件图案的形成方法
[P].
刘恩铨
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刘恩铨
;
童宇诚
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童宇诚
.
中国专利
:CN108630661A
,2018-10-09
[8]
半导体元件及其形成方法
[P].
周信宏
论文数:
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周信宏
;
蔡高财
论文数:
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蔡高财
.
中国专利
:CN115696923A
,2023-02-03
[9]
半导体元件及其形成方法
[P].
姜序
论文数:
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机构:
南亚科技股份有限公司
南亚科技股份有限公司
姜序
.
中国专利
:CN121174541A
,2025-12-19
[10]
半导体元件及其形成方法
[P].
王志豪
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王志豪
;
王大维
论文数:
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王大维
.
中国专利
:CN1913175A
,2007-02-14
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