半导体元件结构的形成方法

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申请号
CN202210933181.8
申请日
2022-08-04
公开(公告)号
CN115498040A
公开(公告)日
2022-12-20
发明(设计)人
何彩蓉 李资良
申请人
申请人地址
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
IPC主分类号
H01L2978
IPC分类号
H01L21336
代理机构
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
徐金国
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体元件的形成方法 [P]. 
吴旭升 ;
刘昌淼 ;
尚慧玲 .
中国专利 :CN111128735A ,2020-05-08
[2]
半导体元件的形成方法 [P]. 
黄玉莲 ;
罗伊辰 ;
李岱庭 ;
李再春 ;
蔡明桓 ;
傅劲逢 ;
杨政桦 .
中国专利 :CN108962736A ,2018-12-07
[3]
半导体结构以及半导体元件的形成方法 [P]. 
余振华 ;
吴俊毅 .
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[4]
半导体结构、半导体元件及其形成方法 [P]. 
林柏均 ;
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[5]
半导体元件、封装结构、及半导体元件的形成方法 [P]. 
萧义理 ;
余振华 ;
郑心圃 ;
董志航 ;
魏程昶 .
中国专利 :CN102148201B ,2011-08-10
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测试结构、半导体元件及其形成方法 [P]. 
廖耕颍 ;
宋至伟 ;
林子平 ;
董怀仁 ;
陈柏仁 ;
吴彦柔 ;
杨永隆 .
中国专利 :CN115527878A ,2022-12-27
[7]
半导体元件图案的形成方法 [P]. 
刘恩铨 ;
童宇诚 .
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[8]
半导体元件及其形成方法 [P]. 
周信宏 ;
蔡高财 .
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[9]
半导体元件及其形成方法 [P]. 
姜序 .
中国专利 :CN121174541A ,2025-12-19
[10]
半导体元件及其形成方法 [P]. 
王志豪 ;
王大维 .
中国专利 :CN1913175A ,2007-02-14