缺陷的检测方法、装置和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110369727.7
申请日
2021-04-07
公开(公告)号
CN112767396B
公开(公告)日
2021-05-07
发明(设计)人
陈鲁 佟异 张嵩
申请人
申请人地址
518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G01N2188
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
邵泳城
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
陈振州 ;
江少波 ;
时广军 .
中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02
[2]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
冯豪文 ;
郭师峰 ;
吕高龙 ;
陈丹 ;
冯伟 .
中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22
[3]
缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质 [P]. 
王家霈 .
中国专利 :CN117764945A ,2024-03-26
[4]
缺陷检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质 [P]. 
唐高杨 ;
高瞻宇 .
中国专利 :CN120219272A ,2025-06-27
[5]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张松 ;
刘枢 .
中国专利 :CN120912590A ,2025-11-07
[6]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
肖光曦 .
中国专利 :CN111524107A ,2020-08-11
[7]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
原进良 ;
曹沿松 ;
纪其乐 .
中国专利 :CN115524347A ,2022-12-27
[8]
缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
吴雨培 ;
谢阳 .
中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12
[9]
缺陷检测的方法、装置和计算机可读存储介质 [P]. 
王智玉 ;
王晞 ;
江冠南 .
中国专利 :CN117957438A ,2024-04-30
[10]
缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
杨延竹 ;
彭明 ;
张旭堂 ;
张华 ;
于波 .
中国专利 :CN113628161B ,2024-09-06