学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种晶圆片缺口检测装置及检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311697768.4
申请日
:
2023-12-12
公开(公告)号
:
CN117393453B
公开(公告)日
:
2024-02-13
发明(设计)人
:
程永龙
马林
韩忠俊
何齐宇
申请人
:
迈为技术(珠海)有限公司
申请人地址
:
519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园24栋C区1层377室(集中办公区)
IPC主分类号
:
H01L21/66
IPC分类号
:
H01L21/67
H01L21/687
代理机构
:
北京泽方誉航专利代理事务所(普通合伙) 11884
代理人
:
唐明磊
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/66申请日:20231212
2024-02-13
授权
授权
2024-01-12
公开
公开
共 50 条
[1]
一种晶圆片缺口检测装置及检测方法
[P].
程永龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
程永龙
;
马林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
马林
;
韩忠俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
韩忠俊
;
何齐宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
何齐宇
.
中国专利
:CN117393453A
,2024-01-12
[2]
晶圆检测装置及晶圆片检测方法
[P].
陈蕖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
陈蕖
;
徐铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
徐铭
;
屠国强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
屠国强
;
陈新来
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
陈新来
;
沈一林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
沈一林
.
中国专利
:CN118800678A
,2024-10-18
[3]
晶圆缺口检测装置及其检测方法
[P].
邵辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邵辉
;
魏志杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
魏志杰
.
中国专利
:CN114791430A
,2022-07-26
[4]
晶圆片位置检测装置及检测方法
[P].
杨帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨帆
.
中国专利
:CN114334691A
,2022-04-12
[5]
一种晶圆缺口检测装置
[P].
张文涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东华矽半导体设备有限公司
广东华矽半导体设备有限公司
张文涛
;
梁经伦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东华矽半导体设备有限公司
广东华矽半导体设备有限公司
梁经伦
;
张绍辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东华矽半导体设备有限公司
广东华矽半导体设备有限公司
张绍辉
;
陈金宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东华矽半导体设备有限公司
广东华矽半导体设备有限公司
陈金宇
;
劳才高
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东华矽半导体设备有限公司
广东华矽半导体设备有限公司
劳才高
.
中国专利
:CN119340256A
,2025-01-21
[6]
一种晶圆片视觉检测设备及检测方法
[P].
吴明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
吴明
;
陆建力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
陆建力
.
中国专利
:CN118655153A
,2024-09-17
[7]
一种晶圆片视觉检测设备及检测方法
[P].
吴明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
吴明
;
陆建力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
陆建力
.
中国专利
:CN118655153B
,2025-01-21
[8]
一种晶圆级检测装置及晶圆级检测方法
[P].
陈建发
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳迈塔兰斯科技有限公司
深圳迈塔兰斯科技有限公司
陈建发
;
韩雨希
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳迈塔兰斯科技有限公司
深圳迈塔兰斯科技有限公司
韩雨希
;
程佳平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳迈塔兰斯科技有限公司
深圳迈塔兰斯科技有限公司
程佳平
;
王穗玲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳迈塔兰斯科技有限公司
深圳迈塔兰斯科技有限公司
王穗玲
;
郝成龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳迈塔兰斯科技有限公司
深圳迈塔兰斯科技有限公司
郝成龙
;
谭凤泽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳迈塔兰斯科技有限公司
深圳迈塔兰斯科技有限公司
谭凤泽
;
朱健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳迈塔兰斯科技有限公司
深圳迈塔兰斯科技有限公司
朱健
.
中国专利
:CN119310103A
,2025-01-14
[9]
晶圆检测装置及检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
孙丰
;
盛凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州赛腾精密电子股份有限公司
苏州赛腾精密电子股份有限公司
盛凯
.
中国专利
:CN120319681B
,2025-08-22
[10]
一种晶圆检测装置及检测方法
[P].
文斐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
文斐
;
孔德峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孔德峰
;
胡纯栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡纯栋
;
沈飊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
沈飊
;
梁立振
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁立振
;
曹宏睿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹宏睿
;
叶扬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶扬
;
訾鹏飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
訾鹏飞
;
屈浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
屈浩
;
谭名昇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谭名昇
;
钱玉忠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
钱玉忠
;
裴明雪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
裴明雪
.
中国专利
:CN115015156A
,2022-09-06
←
1
2
3
4
5
→