半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211148828.2
申请日
2022-09-21
公开(公告)号
CN117790400A
公开(公告)日
2024-03-29
发明(设计)人
米红星 王鹏 李洋 吴琼 郑磊
申请人
中芯国际集成电路制造(天津)有限公司 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请人地址
300385 天津市西青区兴华道19号
IPC主分类号
H01L21/762
IPC分类号
代理机构
北京市一法律师事务所 11654
代理人
刘荣娟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
河北省 衡水市
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
何永根 .
中国专利 :CN105655253B ,2016-06-08
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
何永根 .
中国专利 :CN105655398A ,2016-06-08
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张军超 ;
徐政业 .
中国专利 :CN113539971B ,2021-10-22
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
禹国宾 .
中国专利 :CN105870005B ,2016-08-17
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
三重野文健 ;
周永昌 .
中国专利 :CN117352390A ,2024-01-05
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
何永根 .
中国专利 :CN105990341B ,2016-10-05
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
刘佳磊 .
中国专利 :CN105826236A ,2016-08-03
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
蔡巧明 ;
阎海涛 ;
马丽莎 .
中国专利 :CN115692432A ,2023-02-03
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
三重野文健 ;
周永昌 .
中国专利 :CN116313810B ,2025-12-16
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
雒曲 ;
谢文浩 .
中国专利 :CN113690185A ,2021-11-23