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一种半导体检测辅助装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202322221512.8
申请日
:
2023-08-18
公开(公告)号
:
CN220626455U
公开(公告)日
:
2024-03-19
发明(设计)人
:
谢卫国
王茜
申请人
:
苏州齐芯技术服务合伙企业(有限合伙)
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴中区木渎镇枫瑞路118号401室
IPC主分类号
:
G01R1/04
IPC分类号
:
G01R31/26
H01L21/66
代理机构
:
南京汇诚信合知识产权代理事务所(普通合伙) 32609
代理人
:
陆井玉
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-03-19
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体检测用辅助装置
[P].
杜浩晨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜浩晨
;
王光辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王光辉
.
中国专利
:CN214278262U
,2021-09-24
[2]
一种半导体检测装置
[P].
王垚森
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王垚森
.
中国专利
:CN216160766U
,2022-04-01
[3]
一种半导体检测工装
[P].
罗宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
斯迈孚智能科技(苏州)有限公司
斯迈孚智能科技(苏州)有限公司
罗宏
.
中国专利
:CN223532310U
,2025-11-11
[4]
半导体检测结构
[P].
包自意
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
包自意
.
中国专利
:CN204651291U
,2015-09-16
[5]
半导体检测结构
[P].
廖育德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
廖育德
;
蔡甦谷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蔡甦谷
.
中国专利
:CN205984977U
,2017-02-22
[6]
半导体检测装置
[P].
余宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余宏
.
中国专利
:CN206892268U
,2018-01-16
[7]
半导体检测装置
[P].
肖良红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
肖良红
.
中国专利
:CN111346831A
,2020-06-30
[8]
半导体检测装置
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN121186081A
,2025-12-23
[9]
一种半导体检测装置
[P].
王小花
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王小花
.
中国专利
:CN214473491U
,2021-10-22
[10]
一种半导体检测装置
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
赵帅
;
胡元茂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
重庆理工大学
重庆理工大学
胡元茂
.
中国专利
:CN117637510B
,2024-10-29
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