一种半导体检测辅助装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202322221512.8
申请日
2023-08-18
公开(公告)号
CN220626455U
公开(公告)日
2024-03-19
发明(设计)人
谢卫国 王茜
申请人
苏州齐芯技术服务合伙企业(有限合伙)
申请人地址
215000 江苏省苏州市吴中区木渎镇枫瑞路118号401室
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/26 H01L21/66
代理机构
南京汇诚信合知识产权代理事务所(普通合伙) 32609
代理人
陆井玉
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体检测用辅助装置 [P]. 
杜浩晨 ;
王光辉 .
中国专利 :CN214278262U ,2021-09-24
[2]
一种半导体检测装置 [P]. 
王垚森 .
中国专利 :CN216160766U ,2022-04-01
[3]
一种半导体检测工装 [P]. 
罗宏 .
中国专利 :CN223532310U ,2025-11-11
[4]
半导体检测结构 [P]. 
包自意 .
中国专利 :CN204651291U ,2015-09-16
[5]
半导体检测结构 [P]. 
廖育德 ;
蔡甦谷 .
中国专利 :CN205984977U ,2017-02-22
[6]
半导体检测装置 [P]. 
余宏 .
中国专利 :CN206892268U ,2018-01-16
[7]
半导体检测装置 [P]. 
肖良红 .
中国专利 :CN111346831A ,2020-06-30
[8]
半导体检测装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN121186081A ,2025-12-23
[9]
一种半导体检测装置 [P]. 
王小花 .
中国专利 :CN214473491U ,2021-10-22
[10]
一种半导体检测装置 [P]. 
赵帅 ;
胡元茂 .
中国专利 :CN117637510B ,2024-10-29