一种红外半导体晶体膜镀膜装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322769756.X

申请日：

2023-10-16

公开(公告)号：

CN220919682U

公开(公告)日：

2024-05-10

发明(设计)人：

任卫民张东升杨勇白雨晴

申请人：

信阳星原智能科技有限公司

申请人地址：

464000 河南省信阳市浉河区金牛物流产业集聚区金工大道智能产业园2号、4号厂房

IPC主分类号：

B05B13/04

IPC分类号：

代理机构：

郑州宏海知识产权代理事务所(普通合伙) 41184

代理人：

赵白

法律状态：

授权

国省代码：

河北省唐山市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种红外半导体晶体膜镀膜装置及方法 [P].

任卫民 ;

杨勇 ;

郭义 ;

陈辉 ;

张慧兰 ;

白雨晴 ;

林贞珊 .

中国专利 :CN118594845A ,2024-09-06

[2]

一种红外半导体晶体膜寿命测试装置 [P].

张东升 ;

任卫民 .

中国专利 :CN217931316U ,2022-11-29

[3]

一种红外半导体晶体膜在线生产抽检取样装置 [P].

张东升 ;

任卫民 .

中国专利 :CN217953930U ,2022-12-02

[4]

一种红外半导体晶体膜热效能检测设备 [P].

张东升 ;

任卫民 .

中国专利 :CN218003304U ,2022-12-09

[5]

一种红外半导体晶体膜发热性能测试装置 [P].

张东升 ;

任卫民 .

中国专利 :CN217786969U ,2022-11-11

[6]

一种红外半导体晶体膜发热频次性能测试装置 [P].

张东升 ;

任卫民 .

中国专利 :CN217954310U ,2022-12-02

[7]

一种半导体镀膜装置 [P].

吴攀 .

中国专利 :CN222205414U ,2024-12-20

[8]

一种红外半导体晶体膜水汽腐蚀测试装置 [P].

张东升 ;

任卫民 .

中国专利 :CN218157474U ,2022-12-27

[9]

一种红外半导体晶体膜抗水垢测试装置 [P].

张东升 ;

任卫民 .

中国专利 :CN218157817U ,2022-12-27

[10]

一种红外半导体晶体膜生产用成型设备 [P].

任卫民 ;

张东升 ;

杨勇 ;

肖利娜 ;

林贞珊 .

中国专利 :CN220829948U ,2024-04-23

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