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晶圆视觉检测方法、检测系统、检测晶圆损坏的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110316188.0
申请日
:
2021-03-24
公开(公告)号
:
CN113161254B
公开(公告)日
:
2024-01-30
发明(设计)人
:
左国军
任金枝
范生刚
马冠男
申请人
:
创微微电子(常州)有限公司
常州捷佳创精密机械有限公司
申请人地址
:
213133 江苏省常州市新北区机电工业园宝塔山路9号
IPC主分类号
:
H01L21/66
IPC分类号
:
H01L21/67
代理机构
:
北京友联知识产权代理有限公司 11343
代理人
:
汪海屏;王淑梅
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-30
授权
授权
共 50 条
[41]
晶圆缺陷检测方法
[P].
刘明宗
论文数:
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刘明宗
;
王世生
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王世生
.
中国专利
:CN112561849A
,2021-03-26
[42]
晶圆缺陷检测方法
[P].
李军
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李军
;
何广智
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何广智
;
倪棋梁
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倪棋梁
.
中国专利
:CN115471475A
,2022-12-13
[43]
晶圆缺陷检测方法
[P].
倪棋梁
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倪棋梁
;
陈宏璘
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陈宏璘
;
龙吟
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龙吟
;
王恺
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王恺
.
中国专利
:CN103646889A
,2014-03-19
[44]
晶圆缺陷检测方法
[P].
曾明
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曾明
.
中国专利
:CN103377960A
,2013-10-30
[45]
晶圆缺陷检测方法
[P].
汪红英
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汪红英
;
孙强
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孙强
;
陈思安
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陈思安
;
陈萝茜
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陈萝茜
.
中国专利
:CN104900553B
,2015-09-09
[46]
晶圆缺陷检测方法
[P].
李军
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机构:
上海华力微电子有限公司
上海华力微电子有限公司
李军
;
何广智
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机构:
上海华力微电子有限公司
上海华力微电子有限公司
何广智
;
倪棋梁
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机构:
上海华力微电子有限公司
上海华力微电子有限公司
倪棋梁
.
中国专利
:CN115471475B
,2025-10-14
[47]
晶圆缺陷检测方法
[P].
徐磊
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机构:
上海光通信有限公司
上海光通信有限公司
徐磊
;
江洪
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机构:
上海光通信有限公司
上海光通信有限公司
江洪
.
中国专利
:CN120473400A
,2025-08-12
[48]
晶圆缺陷检测方法
[P].
倪棋梁
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倪棋梁
;
陈宏璘
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陈宏璘
;
龙吟
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龙吟
.
中国专利
:CN104103545A
,2014-10-15
[49]
晶圆颗粒检测方法
[P].
陈鲁
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陈鲁
.
中国专利
:CN102830048A
,2012-12-19
[50]
晶圆缺陷检测方法
[P].
倪棋梁
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倪棋梁
;
陈宏璘
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陈宏璘
;
龙吟
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龙吟
.
中国专利
:CN103646899A
,2014-03-19
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