半導体構造物上に窒素含有化合物を堆積させる方法[ja]

被引:0
申请号
JP20210069197
申请日
2021-04-15
公开(公告)号
JP7079872B2
公开(公告)日
2022-06-02
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L21/3065
IPC分类号
H01L21/47
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[2]
化合物半導体積層構造[ja] [P]. 
日本专利 :JP5673725B2 ,2015-02-18
[3]
III族窒化物化合物半導体積層構造体[ja] [P]. 
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[4]
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[5]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
窒化物系化合物半導体素子を製造する方法[ja] [P]. 
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[10]
化合物半導体集積回路[ja] [P]. 
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