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半導体構造物上に窒素含有化合物を堆積させる方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210069197
申请日
:
2021-04-15
公开(公告)号
:
JP7079872B2
公开(公告)日
:
2022-06-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/3065
IPC分类号
:
H01L21/47
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
半導体構造物をエッチングするための窒素含有化合物[ja]
[P].
日本专利
:JP2018529225A
,2018-10-04
[2]
化合物半導体積層構造[ja]
[P].
日本专利
:JP5673725B2
,2015-02-18
[3]
III族窒化物化合物半導体積層構造体[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007129773A1
,2009-09-17
[4]
化合物半導体積層体[ja]
[P].
日本专利
:JP6517530B2
,2019-05-22
[5]
窒化物系化合物半導体[ja]
[P].
日本专利
:JP6174253B2
,2017-08-02
[6]
窒化物系化合物半導体[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015182283A1
,2017-04-20
[7]
化合物半導体の堆積方法及び装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010125821A1
,2012-10-25
[8]
窒化物系化合物半導体素子を製造する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2016530700A
,2016-09-29
[9]
窒化物系化合物半導体素子を製造する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6138359B2
,2017-05-31
[10]
化合物半導体集積回路[ja]
[P].
日本专利
:JP5661707B2
,2015-01-28
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