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3次元NANDメモリ構造体におけるトンネル酸化物層形成の方法および関連するデバイス[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160550508
申请日
:
2015-02-27
公开(公告)号
:
JP2017509149A
公开(公告)日
:
2017-03-30
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/336
IPC分类号
:
H01L27/115
H01L29/788
H01L29/792
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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共 50 条
[1]
3次元NANDメモリ構造体におけるトンネル酸化物層形成の方法および関連するデバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP6504178B2
,2019-04-24
[2]
金属浮遊ゲート複合3次元NANDメモリデバイスおよび関連する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2016541111A
,2016-12-28
[3]
結晶半導体材料の薄層を設ける方法、ならびに関連する構造体およびデバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2015515122A
,2015-05-21
[4]
結晶半導体材料の薄層を設ける方法、ならびに関連する構造体およびデバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP6193271B2
,2017-09-06
[5]
メモリデバイス及びメモリデバイスを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023510877A
,2023-03-15
[6]
側壁トンネル接合を形成する方法およびトンネル接合デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2020522886A
,2020-07-30
[7]
半導体デバイス、トランジスタ、および金属酸化物半導体デバイスを接触させるための関連する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2020532854A
,2020-11-12
[8]
3D集積化プロセスにおいて材料の層を転写する方法ならびに関連する構造体およびデバイス[ja]
[P].
日本专利
:JP2014531768A
,2014-11-27
[9]
半導体デバイス構造、および、当該半導体デバイス構造を形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025128059A
,2025-09-02
[10]
デュアルチャネル構造を有する酸化物半導体メモリ素子およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025141857A
,2025-09-29
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