金属酸化物半導体およびその製造方法、半導体素子、薄膜トランジスタ[ja]

被引:0
申请号
JP20090547078
申请日
2008-12-19
公开(公告)号
JPWO2009081862A1
公开(公告)日
2011-05-06
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L29/786
IPC分类号
H01L21/336 H01L21/368
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[4]
[5]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015008805A1 ,2017-03-02
[6]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP5966840B2 ,2016-08-10
[7]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP6107085B2 ,2017-04-05
[8]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP6376153B2 ,2018-08-22
[9]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP5928657B2 ,2016-06-01
[10]
酸化物半導体薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP7681959B2 ,2025-05-23