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金属酸化物半導体およびその製造方法、半導体素子、薄膜トランジスタ[ja]
被引:0
申请号
:
JP20090547078
申请日
:
2008-12-19
公开(公告)号
:
JPWO2009081862A1
公开(公告)日
:
2011-05-06
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L29/786
IPC分类号
:
H01L21/336
H01L21/368
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
金属酸化物半導体およびその製造方法、半導体素子、薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP5644111B2
,2014-12-24
[2]
金属酸化物半導体の製造方法、金属酸化物半導体および薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP5640323B2
,2014-12-17
[3]
半導体薄膜、半導体薄膜の製造方法、および、半導体素子[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008139860A1
,2010-07-29
[4]
金属酸化物半導体薄膜トランジスタの製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6426177B2
,2018-11-21
[5]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015008805A1
,2017-03-02
[6]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP5966840B2
,2016-08-10
[7]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP6107085B2
,2017-04-05
[8]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP6376153B2
,2018-08-22
[9]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP5928657B2
,2016-06-01
[10]
酸化物半導体薄膜トランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP7681959B2
,2025-05-23
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