金属酸化物半導体の製造方法、金属酸化物半導体および薄膜トランジスタ[ja]

被引:0
申请号
JP20090103641
申请日
2009-04-22
公开(公告)号
JP5640323B2
公开(公告)日
2014-12-17
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L21/368
IPC分类号
H01L21/336 H01L29/786
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
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[4]
金属酸化物半導体薄膜の製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6029816B2 ,2016-11-24
[5]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP5966840B2 ,2016-08-10
[6]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP6107085B2 ,2017-04-05
[7]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP6376153B2 ,2018-08-22
[8]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP5928657B2 ,2016-06-01
[9]
酸化物半導体薄膜および薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015008805A1 ,2017-03-02
[10]
酸化物半導体薄膜トランジスタ[ja] [P]. 
日本专利 :JP7681959B2 ,2025-05-23