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一种测高磨刀装置、划片机及测高磨刀装置使用方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410693652.1
申请日
:
2024-05-31
公开(公告)号
:
CN118254044B
公开(公告)日
:
2024-09-20
发明(设计)人
:
张明明
张春航
石文
于强
苏立莹
王贺强
林兴鹏
申请人
:
沈阳和研科技股份有限公司
申请人地址
:
110000 辽宁省沈阳市皇姑区塔湾街11号(塔湾街11号)信悦汇A1座20层2005-2单元
IPC主分类号
:
B24B3/36
IPC分类号
:
B24B41/02
B24B41/04
B24B49/00
B24B51/00
B24B47/22
代理机构
:
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人
:
梁晓婷
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
辽宁省 沈阳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-07-16
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):B24B 3/36申请日:20240531
2024-06-28
公开
公开
2024-09-20
授权
授权
共 50 条
[1]
一种测高磨刀装置、划片机及测高磨刀装置使用方法
[P].
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机构:
张明明
;
张春航
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沈阳和研科技股份有限公司
沈阳和研科技股份有限公司
张春航
;
石文
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沈阳和研科技股份有限公司
沈阳和研科技股份有限公司
石文
;
于强
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沈阳和研科技股份有限公司
沈阳和研科技股份有限公司
于强
;
苏立莹
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沈阳和研科技股份有限公司
沈阳和研科技股份有限公司
苏立莹
;
王贺强
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沈阳和研科技股份有限公司
沈阳和研科技股份有限公司
王贺强
;
林兴鹏
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沈阳和研科技股份有限公司
沈阳和研科技股份有限公司
林兴鹏
.
中国专利
:CN118254044A
,2024-06-28
[2]
划片机测高方法、测高装置及划片机
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
;
司亚辉
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司亚辉
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郑海全
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郑海全
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李港生
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李港生
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王亚明
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王亚明
.
中国专利
:CN110549507B
,2019-12-10
[3]
一种划片机测高装置及测高方法
[P].
王俊杰
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北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
王俊杰
;
刘婷婷
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北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
刘婷婷
;
孟庆嵩
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北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
孟庆嵩
.
中国专利
:CN119915171A
,2025-05-02
[4]
划片机及划片机接触测高装置、划片机测高方法
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
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石云鹏
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石云鹏
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司亚辉
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司亚辉
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孙亚辉
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孙亚辉
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郑海全
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郑海全
.
中国专利
:CN110487151A
,2019-11-22
[5]
一种划片机非接触测高装置
[P].
张光明
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张光明
.
中国专利
:CN207303045U
,2018-05-01
[6]
接触式测高装置及划片机
[P].
王超
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王超
;
石云鹏
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石云鹏
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司亚辉
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司亚辉
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张明洋
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张明洋
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李港生
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李港生
.
中国专利
:CN217344961U
,2022-09-02
[7]
一种砂轮划片机的接触测高装置
[P].
袁慧珠
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袁慧珠
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张明明
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张明明
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董佳文
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董佳文
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董海昌
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董海昌
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吴德宝
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吴德宝
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刘佳梦
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刘佳梦
.
中国专利
:CN114234788A
,2022-03-25
[8]
一种非接触测高装置及划片机
[P].
刘荒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘荒
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陈扬
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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陈扬
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唐贵富
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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唐贵富
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吕艳
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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吕艳
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刘光恒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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刘光恒
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张春光
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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张春光
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韩华超
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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赵博仲
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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李东旭
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李东旭
.
中国专利
:CN120063139A
,2025-05-30
[9]
一种非接触测高装置及划片机
[P].
刘荒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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刘荒
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陈扬
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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陈扬
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吕艳
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刘光恒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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刘光恒
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韩华超
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赵博仲
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张志勇
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张志勇
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冯银凤
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冯银凤
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尹宁
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
尹宁
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李东旭
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
李东旭
.
中国专利
:CN120063139B
,2025-08-08
[10]
非接触式测高装置及划片机
[P].
刘炳先
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刘炳先
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于光明
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于光明
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孙志超
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孙志超
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金道成
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金道成
.
中国专利
:CN218160299U
,2022-12-27
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