一种QFN、DFN半导体器件用测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411039884.1

申请日：

2024-07-31

公开(公告)号：

CN118962368A

公开(公告)日：

2024-11-15

发明(设计)人：

徐江

申请人：

浙江亚芯微电子股份有限公司

申请人地址：

314400 浙江省嘉兴市海宁市浙江海宁经编产业园区沧平路197号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

浙江永航联科专利代理有限公司 33304

代理人：

俞培锋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省嘉兴市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20240731
2024-11-15	公开	公开

共 50 条

[1]

DFN半导体器件用测试设备 [P].

马磊 ;

狄锋斌 ;

党鹏 ;

杨光 ;

彭小虎 ;

王新刚 ;

庞朋涛 ;

任斌 ;

王道赢 ;

寇一博 .

中国专利 :CN117590182A ,2024-02-23

[2]

DFN半导体器件用测试箱 [P].

马磊 ;

狄锋斌 ;

党鹏 ;

杨光 ;

彭小虎 ;

王新刚 ;

庞朋涛 ;

任斌 ;

王道赢 ;

寇一博 .

中国专利 :CN218481549U ,2023-02-14

[3]

DFN封装半导体器件 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN211700255U ,2020-10-16

[4]

半导体器件测试设备 [P].

蔡德智 ;

靳家奇 ;

王永成 ;

韩飞 .

中国专利 :CN214409193U ,2021-10-15

[5]

一种半导体器件测试设备 [P].

王华江 .

中国专利 :CN113791327B ,2024-08-06

[6]

一种半导体器件测试设备 [P].

朱峰 ;

张旭 .

中国专利 :CN215526018U ,2022-01-14

[7]

一种半导体器件测试设备 [P].

王华江 .

中国专利 :CN113791327A ,2021-12-14

[8]

DFN功率集成半导体器件 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN211700244U ,2020-10-16

[9]

半导体器件的测试设备 [P].

菅野幸男 ;

后藤敏雄 .

中国专利 :CN1082668C ,1998-09-09

[10]

用于DFN半导体器件的老化测试装置 [P].

马磊 ;

狄锋斌 ;

党鹏 ;

杨光 ;

彭小虎 ;

王新刚 ;

庞朋涛 ;

任斌 .

中国专利 :CN118011052A ,2024-05-10

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