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TRECsの改良測定方法およびそれを用いた重症複合免疫不全症のスクリーニング方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200160873
申请日
:
2020-09-25
公开(公告)号
:
JP7540650B2
公开(公告)日
:
2024-08-27
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
C12Q1/686
IPC分类号
:
C12Q1/6851
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
生体試料中のアミンの測定方法およびその方法を用いる患者のスクリーニング方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5662182B2
,2015-01-28
[2]
測定構造体、その製造方法、および、それを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012132111A1
,2014-07-24
[3]
測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013035371A1
,2015-03-23
[4]
測定用デバイス、および、それを用いた被測定物の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5828899B2
,2015-12-09
[5]
クラウニング測定装置およびこれを用いたクラウニング測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010021046A1
,2012-01-26
[6]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
KANAI KENJIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
KANAI KENJIRO
.
日本专利
:JP2022079608A
,2022-05-26
[7]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7259112B2
,2023-04-17
[8]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7611287B2
,2025-01-09
[9]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7051533B2
,2022-04-11
[10]
免疫センサ及びそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008038597A1
,2010-01-28
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