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倒梯形锗硅的形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411019201.6
申请日
:
2024-07-26
公开(公告)号
:
CN118969732A
公开(公告)日
:
2024-11-15
发明(设计)人
:
陶芬芬
张亮
高海霞
申请人
:
上海华力集成电路制造有限公司
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
:
H01L21/77
IPC分类号
:
H01L27/12
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
刘昌荣
法律状态
:
公开
国省代码
:
上海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-15
公开
公开
2024-12-03
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/77申请日:20240726
共 50 条
[1]
锗硅沟道形成方法
[P].
李妍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李妍
;
辻直樹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
辻直樹
.
中国专利
:CN115050698A
,2022-09-13
[2]
锗硅外延层、其形成方法及一PMOS器件
[P].
陈勇跃
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈勇跃
;
颜强
论文数:
0
引用数:
0
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0
颜强
;
周海锋
论文数:
0
引用数:
0
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0
周海锋
;
方精训
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方精训
.
中国专利
:CN110400844A
,2019-11-01
[3]
西格玛沟槽刻蚀方法、锗硅外延层的形成方法及PMOS器件
[P].
邱靖尧
论文数:
0
引用数:
0
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0
邱靖尧
.
中国专利
:CN110416088A
,2019-11-05
[4]
锗硅沟道栅氧化层的形成方法
[P].
姜兰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
姜兰
.
中国专利
:CN117954311A
,2024-04-30
[5]
绝缘体上锗硅的形成方法
[P].
陈勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈勇
.
中国专利
:CN103594411A
,2014-02-19
[6]
嵌入式锗硅器件的形成方法
[P].
李全波
论文数:
0
引用数:
0
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0
李全波
;
崇二敏
论文数:
0
引用数:
0
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0
崇二敏
;
张瑜
论文数:
0
引用数:
0
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0
张瑜
.
中国专利
:CN105679710A
,2016-06-15
[7]
锗硅沟道中栅氧化层的形成方法
[P].
姜兰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
姜兰
;
归琰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
归琰
.
中国专利
:CN118116800A
,2024-05-31
[8]
一种硅锗外延层的形成方法
[P].
袁子凡
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
安徽大学
安徽大学
袁子凡
;
李典
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽大学
安徽大学
李典
.
中国专利
:CN117976526A
,2024-05-03
[9]
形成硅锗外延层的方法
[P].
谭俊
论文数:
0
引用数:
0
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谭俊
;
黄秋铭
论文数:
0
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0
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0
黄秋铭
;
颜强
论文数:
0
引用数:
0
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0
颜强
.
中国专利
:CN110010551A
,2019-07-12
[10]
倒梯形替代栅极及倒梯形金属栅电极的制作方法
[P].
张翼英
论文数:
0
引用数:
0
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0
张翼英
.
中国专利
:CN102412128A
,2012-04-11
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