倒梯形锗硅的形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN202411019201.6
申请日
2024-07-26
公开(公告)号
CN118969732A
公开(公告)日
2024-11-15
发明(设计)人
陶芬芬 张亮 高海霞
申请人
上海华力集成电路制造有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
H01L21/77
IPC分类号
H01L27/12
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
刘昌荣
法律状态
公开
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
锗硅沟道形成方法 [P]. 
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辻直樹 .
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[2]
锗硅外延层、其形成方法及一PMOS器件 [P]. 
陈勇跃 ;
颜强 ;
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[3]
西格玛沟槽刻蚀方法、锗硅外延层的形成方法及PMOS器件 [P]. 
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[4]
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[5]
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[6]
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崇二敏 ;
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[7]
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[8]
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[9]
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黄秋铭 ;
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[10]
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