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一种具有分裂耦合栅结构的p-GaN HEMT器件
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411437327.5
申请日
:
2024-10-15
公开(公告)号
:
CN119300398A
公开(公告)日
:
2025-01-10
发明(设计)人
:
高升
严宏宇
张琳
黄义
申请人
:
重庆邮电大学
申请人地址
:
400065 重庆市南岸区黄桷垭崇文路2号
IPC主分类号
:
H10D30/47
IPC分类号
:
H10D62/10
H10D64/27
H10D64/23
代理机构
:
北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
代理人
:
方钟苑
法律状态
:
公开
国省代码
:
山东省 青岛市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-01-10
公开
公开
2025-01-28
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H10D 30/47申请日:20241015
共 50 条
[1]
一种p-GaN混合MIS栅的HEMT器件
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
黄义
;
严宏宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆邮电大学
重庆邮电大学
严宏宇
;
论文数:
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机构:
高升
;
论文数:
引用数:
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机构:
陈伟中
;
论文数:
引用数:
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机构:
张红升
.
中国专利
:CN120676663A
,2025-09-19
[2]
一种抑制阈值电压漂移的p-GaN HEMT器件
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
黄义
;
严宏宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆邮电大学
重庆邮电大学
严宏宇
;
论文数:
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机构:
高升
;
吴艳君
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆邮电大学
重庆邮电大学
吴艳君
;
论文数:
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机构:
张琳
;
袁建成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆邮电大学
重庆邮电大学
袁建成
.
中国专利
:CN118969824A
,2024-11-15
[3]
一种具有雪崩击穿特性的p-GaN栅HEMT器件
[P].
俞程
论文数:
0
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0
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0
机构:
电子科技大学
电子科技大学
俞程
;
论文数:
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机构:
郑崇芝
;
论文数:
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机构:
陈万军
;
王茁成
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0
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0
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0
机构:
电子科技大学
电子科技大学
王茁成
;
论文数:
引用数:
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机构:
孙瑞泽
.
中国专利
:CN120417432A
,2025-08-01
[4]
一种具有ESD栅极防护的p-GaN HEMT器件
[P].
陈万军
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0
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0
陈万军
;
信亚杰
论文数:
0
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0
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0
信亚杰
;
段力冬
论文数:
0
引用数:
0
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0
段力冬
;
孙瑞泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
孙瑞泽
;
张波
论文数:
0
引用数:
0
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0
张波
.
中国专利
:CN113394285A
,2021-09-14
[5]
一种具有原位阻性钝化层的p-GaN栅HEMT器件
[P].
俞程
论文数:
0
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0
机构:
电子科技大学
电子科技大学
俞程
;
论文数:
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机构:
郑崇芝
;
论文数:
引用数:
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机构:
陈万军
;
王茁成
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0
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0
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0
机构:
电子科技大学
电子科技大学
王茁成
;
论文数:
引用数:
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机构:
孙瑞泽
.
中国专利
:CN120417431A
,2025-08-01
[6]
一种高耐压、增强型MIS结构P-GaN栅的垂直HEMT器件
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
尹以安
;
邹炳志
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
华南师范大学
华南师范大学
邹炳志
;
王进懿
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
华南师范大学
华南师范大学
王进懿
.
中国专利
:CN220984533U
,2024-05-17
[7]
p-GaN基增强型HEMT器件
[P].
金峻渊
论文数:
0
引用数:
0
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0
金峻渊
;
魏进
论文数:
0
引用数:
0
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0
魏进
.
中国专利
:CN108511522A
,2018-09-07
[8]
p-GaN栅HEMT器件、制备方法、芯片及电子设备
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
李祥东
;
程智博
论文数:
0
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0
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0
机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
程智博
;
论文数:
引用数:
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机构:
张进成
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
郝跃
.
中国专利
:CN119364800A
,2025-01-24
[9]
一种T型P-GaN栅GaN射频HEMT器件及其制备方法
[P].
王仝
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
王仝
;
何佳琦
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
何佳琦
;
刘志宏
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
刘志宏
;
周瑾
论文数:
0
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0
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
周瑾
;
冯欣
论文数:
0
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
冯欣
;
杜航海
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
杜航海
;
张苇杭
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
张苇杭
;
邢伟川
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
邢伟川
;
张进成
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0
机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
张进成
;
郝跃
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
郝跃
.
中国专利
:CN119789465A
,2025-04-08
[10]
p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
施宜军
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
施宜军
;
申志蓬
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申志蓬
;
陈媛
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
何亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
何亮
;
陈兴欢
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈兴欢
;
陈义强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN121218634A
,2025-12-26
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