一种利用聚焦离子束制备TEM孔隙样品的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411831653.4

申请日：

2024-12-12

公开(公告)号：

CN119666504A

公开(公告)日：

2025-03-21

发明(设计)人：

黄莉贺兆波曾远叶瑞徐泽

申请人：

湖北兴福电子材料股份有限公司

申请人地址：

443007 湖北省宜昌市猇亭区猇亭大道66-3号

IPC主分类号：

G01N1/28

IPC分类号：

G01N23/04 G01N23/20008

代理机构：

宜昌市三峡专利事务所 42103

代理人：

蒋悦

法律状态：

授权

国省代码：

湖北省宜昌市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-29	授权	授权
2025-04-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 1/28申请日:20241212
2025-03-21	公开	公开

共 50 条

[1]

一种利用聚焦离子束制备TEM孔隙样品的方法 [P].

黄莉 ;

贺兆波 ;

曾远 ;

叶瑞 ;

徐泽 .

中国专利 :CN119666504B ,2025-08-29

[2]

一种利用聚焦离子束制备孔隙样品的减薄方法 [P].

叶瑞 ;

黄莉 ;

曾远 ;

徐泽 .

中国专利 :CN120992284A ,2025-11-21

[3]

聚焦离子束样品清洁方法及装置 [P].

王娅茹 ;

李威 .

中国专利 :CN114192503A ,2022-03-18

[4]

利用聚焦离子束加工透射样品的方法 [P].

吴华强 ;

孙雯 ;

高滨 ;

唐建石 ;

钱鹤 ;

王钰言 .

中国专利 :CN119804090A ,2025-04-11

[5]

利用聚焦离子束制备透射电镜样品的方法 [P].

池祥 ;

陈自强 ;

胡伟 ;

史尧 ;

吴克辉 .

中国专利 :CN118483008A ,2024-08-13

[6]

一种利用聚焦离子束制备大尺寸透射样品的加工方法 [P].

孙巧艳 ;

寇文娟 ;

黄明达 ;

陈威 ;

肖林 ;

孙军 .

中国专利 :CN105842045B ,2016-08-10

[7]

聚焦离子束设备及聚焦离子束检测方法 [P].

赖李龙 .

中国专利 :CN101246132B ,2008-08-20

[8]

一种聚焦离子束中的样品台 [P].

达晓冬 ;

闫国友 .

中国专利 :CN117976499A ,2024-05-03

[9]

利用聚焦的离子束制备横截面的方法 [P].

S·博伊尔 .

德国专利 :CN118016525A ,2024-05-10

[10]

一种聚焦离子束双束系统样品台 [P].

胡蓉 ;

陈汉 ;

薛晶 ;

沙刚 ;

靳慎豹 .

中国专利 :CN110208299A ,2019-09-06

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