隔音屏障缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510682841.3
申请日
2025-05-26
公开(公告)号
CN120198432A
公开(公告)日
2025-06-24
发明(设计)人
华远盛 刘欣琳 杨韵 陈博宇 朱松 元鹏鹏 朱家松
申请人
深圳大学
申请人地址
518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06T7/70 G06T7/90 G06N3/0464 G06N3/045 G06N3/08
代理机构
深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481
代理人
李杏娟
法律状态
公开
国省代码
广东省 佛山市
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共 50 条
[21]
缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘阳兴 ;
郭中原 ;
李培鹏 .
中国专利 :CN113240673B ,2021-08-10
[22]
缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭旭龙 ;
张武杰 .
中国专利 :CN118154556A ,2024-06-07
[23]
缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈路燕 ;
邹建法 ;
聂磊 .
中国专利 :CN113344862B ,2024-04-12
[24]
缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
吴海腾 ;
陆银霞 ;
陆晓敏 ;
玉正英 .
中国专利 :CN113610819A ,2021-11-05
[25]
缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
曾文彬 ;
张衡 ;
梁家睿 ;
朱恒 .
中国专利 :CN120852330A ,2025-10-28
[26]
缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈维玲 ;
戴波 ;
夏健钧 ;
严静 ;
秦祥熙 ;
陈嘉豪 .
中国专利 :CN120385688A ,2025-07-29
[27]
缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
潘屹峰 ;
李勇 ;
杨骥 ;
王力志 ;
黄吴蒙 ;
刘章聪 ;
何昱 ;
杨锐 ;
张道林 ;
张健芳 .
中国专利 :CN121033055A ,2025-11-28
[28]
缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
胡流彬 ;
肖寒琼 ;
范振亮 ;
张修龙 ;
刘衍忠 .
中国专利 :CN117495773A ,2024-02-02
[29]
设备缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
米宏伟 ;
袁鹏 ;
熊晖 ;
高晓明 ;
王少锋 ;
包淇天 ;
张宇鹏 ;
卢永太 .
中国专利 :CN118898571A ,2024-11-05
[30]
器件缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王春龙 ;
郭琛 ;
刘志昌 ;
胡宗群 ;
程江昊 .
中国专利 :CN119722582A ,2025-03-28