隔音屏障缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510682841.3

申请日：

2025-05-26

公开(公告)号：

CN120198432A

公开(公告)日：

2025-06-24

发明(设计)人：

华远盛刘欣琳杨韵陈博宇朱松元鹏鹏朱家松

申请人：

深圳大学

申请人地址：

518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/70 G06T7/90 G06N3/0464 G06N3/045 G06N3/08

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

李杏娟

法律状态：

公开

国省代码：

广东省佛山市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-24	公开	公开
2025-07-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250526

共 50 条

[41]

铭牌缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王春芳 ;

陆华章 ;

徐强 ;

王晓琳 ;

梁治华 .

中国专利 :CN114612427A ,2022-06-10

[42]

丝印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李莹 ;

李翔 ;

吴航 ;

彭博 ;

尹德斌 .

中国专利 :CN120831372A ,2025-10-24

[43]

表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高大化 ;

黄宸宇 ;

魏来 ;

刘丹华 .

中国专利 :CN118674681A ,2024-09-20

[44]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031B ,2024-10-29

[45]

组件缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄炜昭 ;

陈龙 ;

谢欢欢 ;

辛拓 ;

汪鹏 ;

余广译 ;

蒋立斌 ;

张成巍 ;

戴岸珏 ;

郝越 ;

林泽伟 .

中国专利 :CN120599150A ,2025-09-05

[46]

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114627092A ,2022-06-14

[47]

缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

蒋小可 ;

吴立威 .

中国专利 :CN115082413A ,2022-09-20

[48]

工业缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

韩冬 ;

王灼 ;

李咏 ;

郑翔 .

中国专利 :CN121147092A ,2025-12-16

[49]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031A ,2024-07-12

[50]

缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

王新江 ;

张士龙 ;

方仕杰 ;

陈恺 .

中国专利 :CN112967264A ,2021-06-15

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