一种蚀刻残留物去除组合物

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专利类型
发明
申请号
CN202311830979.0
申请日
2023-12-28
公开(公告)号
CN120272281A
公开(公告)日
2025-07-08
发明(设计)人
张文贝 刘兵 彭洪修 郭辛煊
申请人
安集微电子科技(上海)股份有限公司
申请人地址
201201 上海市浦东新区华东路5001号金桥出口加工区(南区)T6-9幢底层
IPC主分类号
C11D7/32
IPC分类号
C11D7/26 C11D7/34 C11D7/60 C23G5/036 C23G5/032
代理机构
上海市建纬律师事务所 31579
代理人
李佳铭;王芳
法律状态
公开
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种去除蚀刻残留物的化学组合物 [P]. 
张文贝 ;
刘兵 ;
彭洪修 ;
郭辛煊 .
中国专利 :CN120272922A ,2025-07-08
[2]
一种蚀刻残留物去除剂组合物 [P]. 
程章 ;
彭洪修 ;
刘兵 ;
吴兵 .
中国专利 :CN119414678A ,2025-02-11
[3]
一种去除蚀刻残留物的组合物 [P]. 
蔡贝克 ;
刘兵 ;
彭洪修 ;
李志豪 ;
温启蒙 .
中国专利 :CN120230612A ,2025-07-01
[4]
一种用于蚀刻后残留物去除的组合物 [P]. 
夏德勇 ;
刘兵 ;
刘玉凤 .
中国专利 :CN120173682A ,2025-06-20
[5]
用于去除蚀刻后残留物的清洁组合物 [P]. 
M·佩恩 ;
E·库珀 ;
金万涞 ;
E·洪 ;
S·金 .
中国专利 :CN110023477A ,2019-07-16
[6]
一种去除蚀刻残留物的清洗液 [P]. 
程章 ;
刘兵 ;
肖林成 ;
彭洪修 .
中国专利 :CN113568286A ,2021-10-29
[7]
一种兼具WC去除和蚀刻残留物清洁的组合物 [P]. 
叶瑞 ;
谢建 ;
贺兆波 ;
吴政 ;
王亮 ;
孟牧麟 ;
刘春丽 ;
彭秋桂 ;
汪凡杰 ;
李宇 .
中国专利 :CN118185631A ,2024-06-14
[8]
用于去除刻蚀残留物的组合物 [P]. 
刘兵 ;
彭洪修 ;
王淑敏 .
中国专利 :CN101490627B ,2009-07-22
[9]
残留物去除 [P]. 
金正男 ;
刘彪 ;
潘成 ;
埃莉卡·陈 ;
殷正操 ;
斯里尼瓦斯·D·内曼尼 ;
怡利·叶 .
中国专利 :CN112136204A ,2020-12-25
[10]
残留物去除 [P]. 
金正男 ;
刘彪 ;
潘成 ;
埃莉卡·陈 ;
殷正操 ;
斯里尼瓦斯·D·内曼尼 ;
怡利·叶 .
美国专利 :CN112136204B ,2024-10-11