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具有复合界面钝化层的P-GaN栅极HEMT器件及制备方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510893654.X
申请日
:
2025-06-30
公开(公告)号
:
CN120751724A
公开(公告)日
:
2025-10-03
发明(设计)人
:
曹艳荣
张微微
苏硕
张芝贤
李苗芬
吕玲
郑雪峰
马晓华
郝跃
申请人
:
西安电子科技大学
申请人地址
:
710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
IPC主分类号
:
H10D30/47
IPC分类号
:
H10D30/01
H10D62/824
H10D62/85
H10D62/10
H01L23/31
代理机构
:
西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230
代理人
:
勾慧敏
法律状态
:
公开
国省代码
:
陕西省 西安市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-03
公开
公开
2025-10-24
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H10D 30/47申请日:20250630
共 50 条
[1]
具有p-GaN盖帽层的HEMT器件及制备方法
[P].
陈龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈龙
;
程静云
论文数:
0
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程静云
;
商延卫
论文数:
0
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0
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商延卫
;
马旺
论文数:
0
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0
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0
马旺
;
陈祖尧
论文数:
0
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0
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0
陈祖尧
;
袁理
论文数:
0
引用数:
0
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0
袁理
.
中国专利
:CN113113480A
,2021-07-13
[2]
具有刻蚀停止层的p-GaN有源钝化GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
王冲
;
李嘉卯
论文数:
0
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0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
李嘉卯
;
论文数:
引用数:
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机构:
马晓华
;
论文数:
引用数:
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机构:
李昂
;
论文数:
引用数:
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机构:
刘凯
;
论文数:
引用数:
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机构:
郝跃
.
中国专利
:CN117352547A
,2024-01-05
[3]
具有欧姆接触界面钝化层的GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
张韵
;
谢树杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国科学院半导体研究所
中国科学院半导体研究所
谢树杰
;
论文数:
引用数:
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机构:
刘喆
;
论文数:
引用数:
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机构:
张连
;
何佳恒
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国科学院半导体研究所
中国科学院半导体研究所
何佳恒
;
论文数:
引用数:
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机构:
程哲
.
中国专利
:CN117936577A
,2024-04-26
[4]
一种具有ESD栅极防护的p-GaN HEMT器件
[P].
陈万军
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈万军
;
信亚杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
信亚杰
;
段力冬
论文数:
0
引用数:
0
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0
段力冬
;
孙瑞泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
孙瑞泽
;
张波
论文数:
0
引用数:
0
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0
张波
.
中国专利
:CN113394285A
,2021-09-14
[5]
p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
施宜军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
施宜军
;
申志蓬
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申志蓬
;
陈媛
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
何亮
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
何亮
;
陈兴欢
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈兴欢
;
陈义强
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN121218634A
,2025-12-26
[6]
一种具有原位阻性钝化层的p-GaN栅HEMT器件
[P].
俞程
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
俞程
;
论文数:
引用数:
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机构:
郑崇芝
;
论文数:
引用数:
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机构:
陈万军
;
王茁成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
电子科技大学
电子科技大学
王茁成
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
孙瑞泽
.
中国专利
:CN120417431A
,2025-08-01
[7]
一种氧气钝化加栅极自对准的p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
李帆
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0
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李帆
;
曹平予
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曹平予
;
张元雷
论文数:
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张元雷
;
刘雯
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘雯
.
中国专利
:CN115472680A
,2022-12-13
[8]
一种氧气钝化加栅极自对准的p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
李帆
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
西交利物浦大学
西交利物浦大学
李帆
;
曹平予
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西交利物浦大学
西交利物浦大学
曹平予
;
张元雷
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西交利物浦大学
西交利物浦大学
张元雷
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘雯
.
中国专利
:CN115472680B
,2025-12-19
[9]
p-GaN超薄栅极层的制备方法
[P].
向家富
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海新业电子科技有限公司
珠海新业电子科技有限公司
向家富
;
殷凯
论文数:
0
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0
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机构:
珠海新业电子科技有限公司
珠海新业电子科技有限公司
殷凯
;
钟怡艺
论文数:
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0
机构:
珠海新业电子科技有限公司
珠海新业电子科技有限公司
钟怡艺
.
中国专利
:CN120264834A
,2025-07-04
[10]
一种GaN HEMT器件、P-GaN延伸层的制备方法
[P].
李亦衡
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
李亦衡
;
王强
论文数:
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引用数:
0
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
王强
;
夏远洋
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
夏远洋
;
魏鸿源
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
魏鸿源
;
武乐可
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
武乐可
;
朱廷刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
朱廷刚
.
中国专利
:CN120825986A
,2025-10-21
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