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一种氧气钝化加栅极自对准的p-GaN HEMT器件及其制备方法
被引:0
申请号
:
CN202211135285.0
申请日
:
2022-09-19
公开(公告)号
:
CN115472680A
公开(公告)日
:
2022-12-13
发明(设计)人
:
李帆
曹平予
张元雷
刘雯
申请人
:
申请人地址
:
215123 江苏省苏州市工业园区独墅湖高等教育区仁爱路111号
IPC主分类号
:
H01L29423
IPC分类号
:
H01L2945
H01L2920
H01L29778
H01L21335
代理机构
:
苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295
代理人
:
叶栋
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-13
公开
公开
2022-12-30
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/423 申请日:20220919
共 50 条
[1]
一种氧气钝化加栅极自对准的p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
李帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西交利物浦大学
西交利物浦大学
李帆
;
曹平予
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西交利物浦大学
西交利物浦大学
曹平予
;
张元雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西交利物浦大学
西交利物浦大学
张元雷
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘雯
.
中国专利
:CN115472680B
,2025-12-19
[2]
p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
施宜军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
施宜军
;
申志蓬
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申志蓬
;
陈媛
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
何亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
何亮
;
陈兴欢
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈兴欢
;
陈义强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN121218634A
,2025-12-26
[3]
一种低栅极漏电p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨凌
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
侯斌
;
论文数:
引用数:
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机构:
贾茂
;
论文数:
引用数:
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机构:
张濛
;
论文数:
引用数:
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机构:
武玫
;
论文数:
引用数:
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机构:
宓珉瀚
;
论文数:
引用数:
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机构:
芦浩
;
论文数:
引用数:
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机构:
马晓华
;
论文数:
引用数:
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机构:
郝跃
.
中国专利
:CN120435030A
,2025-08-05
[4]
一种铁电薄膜与p-GaN栅极堆叠的HEMT器件及其制备方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
任青华
;
刘宇熙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海大学
上海大学
刘宇熙
;
论文数:
引用数:
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机构:
刘鑫
;
丁泽新
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海大学
上海大学
丁泽新
;
张国明
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海大学
上海大学
张国明
;
钱青楠
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海大学
上海大学
钱青楠
;
周群辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海大学
上海大学
周群辉
.
中国专利
:CN118841444A
,2024-10-25
[5]
具有复合界面钝化层的P-GaN栅极HEMT器件及制备方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
曹艳荣
;
张微微
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
张微微
;
苏硕
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
苏硕
;
张芝贤
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
张芝贤
;
李苗芬
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
李苗芬
;
论文数:
引用数:
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机构:
吕玲
;
论文数:
引用数:
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机构:
郑雪峰
;
论文数:
引用数:
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机构:
马晓华
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
郝跃
.
中国专利
:CN120751724A
,2025-10-03
[6]
一种具有ESD栅极防护的p-GaN HEMT器件
[P].
陈万军
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈万军
;
信亚杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
信亚杰
;
段力冬
论文数:
0
引用数:
0
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0
段力冬
;
孙瑞泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
孙瑞泽
;
张波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张波
.
中国专利
:CN113394285A
,2021-09-14
[7]
具有刻蚀停止层的p-GaN有源钝化GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王冲
;
李嘉卯
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
李嘉卯
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
马晓华
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李昂
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘凯
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
郝跃
.
中国专利
:CN117352547A
,2024-01-05
[8]
一种自对准栅极GaN HEMT器件的制备方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张鹏
;
雷文波
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
雷文波
;
论文数:
引用数:
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机构:
杨凌
;
宓珉翰
论文数:
0
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0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
宓珉翰
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
祝杰杰
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
马晓华
.
中国专利
:CN119008405B
,2025-09-19
[9]
一种自对准栅极GaN HEMT器件的制备方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张鹏
;
雷文波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
雷文波
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨凌
;
宓珉翰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
宓珉翰
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
祝杰杰
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
马晓华
.
中国专利
:CN119008405A
,2024-11-22
[10]
一种L型P-GaN HEMT器件结构及其制备方法
[P].
吴义针
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中科(深圳)无线半导体有限公司
中科(深圳)无线半导体有限公司
吴义针
;
麻胜恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中科(深圳)无线半导体有限公司
中科(深圳)无线半导体有限公司
麻胜恒
;
汪连山
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中科(深圳)无线半导体有限公司
中科(深圳)无线半导体有限公司
汪连山
;
陈福鑫
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中科(深圳)无线半导体有限公司
中科(深圳)无线半导体有限公司
陈福鑫
;
赵柏聿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中科(深圳)无线半导体有限公司
中科(深圳)无线半导体有限公司
赵柏聿
.
中国专利
:CN120812984A
,2025-10-17
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