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一种高质量碳化硅基氮化镓外延层及其生长方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202511162805.0
申请日
:
2025-08-19
公开(公告)号
:
CN121023638A
公开(公告)日
:
2025-11-28
发明(设计)人
:
李毓锋
赵伟杰
王成新
马光宇
郑军
申请人
:
山东浪潮华光光电子股份有限公司
申请人地址
:
261061 山东省潍坊市高新区金马路9号
IPC主分类号
:
C30B25/18
IPC分类号
:
C30B29/40
H01L21/02
代理机构
:
济南金迪知识产权代理有限公司 37219
代理人
:
赵龙群
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-16
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):C30B 25/18申请日:20250819
2025-11-28
公开
公开
共 50 条
[1]
一种高质量碳化硅单晶及其生长方法
[P].
史悦
论文数:
0
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0
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机构:
北京天科合达半导体股份有限公司
北京天科合达半导体股份有限公司
史悦
;
郭钰
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机构:
北京天科合达半导体股份有限公司
北京天科合达半导体股份有限公司
郭钰
;
刘春俊
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机构:
北京天科合达半导体股份有限公司
北京天科合达半导体股份有限公司
刘春俊
;
彭同华
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机构:
北京天科合达半导体股份有限公司
北京天科合达半导体股份有限公司
彭同华
;
杨建
论文数:
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机构:
北京天科合达半导体股份有限公司
北京天科合达半导体股份有限公司
杨建
.
中国专利
:CN121228357A
,2025-12-30
[2]
一种高质量碳化硅晶体及其生长方法和装置
[P].
李帅
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李帅
;
李函朔
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李函朔
;
赵建国
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赵建国
.
中国专利
:CN113122923B
,2021-07-16
[3]
一种高质量碳化硅外延生长工艺
[P].
钱卫宁
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钱卫宁
;
冯淦
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冯淦
;
赵建辉
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赵建辉
.
中国专利
:CN107829135A
,2018-03-23
[4]
一种基于氮化镓衬底的高质量氮化镓外延薄膜的生长方法
[P].
李亮
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李亮
.
中国专利
:CN102719887B
,2012-10-10
[5]
一种碳化硅外延层生长方法
[P].
吕立平
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吕立平
.
中国专利
:CN114892273A
,2022-08-12
[6]
一种高质量碳化硅同质外延片及其制备方法
[P].
李赟
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
李赟
;
赵志飞
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
赵志飞
;
王翼
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
王翼
;
熊瑞
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
熊瑞
;
曹越
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
曹越
.
中国专利
:CN121161418A
,2025-12-19
[7]
一种碳化硅外延层生长方法
[P].
王蓉
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王蓉
;
李佳君
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李佳君
;
皮孝东
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皮孝东
;
李东珂
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李东珂
;
刘小平
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刘小平
;
杨德仁
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杨德仁
.
中国专利
:CN114775046B
,2022-07-22
[8]
一种碳化硅外延生长系统及其生长方法
[P].
钮应喜
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钮应喜
;
杨霏
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杨霏
;
温家良
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温家良
;
潘艳
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潘艳
;
王嘉铭
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王嘉铭
;
李永平
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李永平
;
田亮
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田亮
;
吴昊
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吴昊
;
李玲
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李玲
;
查祎英
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查祎英
;
郑柳
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郑柳
;
夏经华
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夏经华
;
桑玲
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桑玲
;
刘瑞
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刘瑞
;
张文婷
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张文婷
;
李嘉琳
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李嘉琳
.
中国专利
:CN105869996A
,2016-08-17
[9]
一种氮化镓外延层的生长方法以及氮化镓外延层
[P].
王建峰
论文数:
0
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0
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机构:
苏州纳维科技有限公司
苏州纳维科技有限公司
王建峰
.
中国专利
:CN117832062A
,2024-04-05
[10]
高质量氮化镓体单晶及其生长方法和制备系统
[P].
司志伟
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司志伟
;
刘宗亮
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刘宗亮
;
徐科
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徐科
.
中国专利
:CN114657640A
,2022-06-24
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