半导体测温装置及其制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510420988.5
申请日
2025-04-01
公开(公告)号
CN121096910A
公开(公告)日
2025-12-09
发明(设计)人
朱湛宁 请求不公布姓名 姚宝威 陈俊佳 冯祖渊 黄觉辉
申请人
深圳市鹏芯微集成电路制造有限公司 广东瑞乐半导体科技有限公司
申请人地址
518111 广东省深圳市龙岗区平湖街道山厦社区中环大道中科谷产业园D栋101
IPC主分类号
H01L21/67
IPC分类号
H01L23/544 H01L23/552 H01L21/02 G01K7/00
代理机构
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
罗晶瑾;张颖玲
法律状态
公开
国省代码
广东省 佛山市
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共 50 条
[1]
半导体测温装置及其制造方法 [P]. 
朱湛宁 ;
请求不公布姓名 ;
姚宝威 ;
陈俊佳 ;
冯祖渊 ;
黄觉辉 .
中国专利 :CN121096907A ,2025-12-09
[2]
半导体测温装置 [P]. 
朱湛宁 ;
请求不公布姓名 ;
姚宝威 ;
陈俊佳 ;
冯祖渊 ;
黄觉辉 .
中国专利 :CN121096908A ,2025-12-09
[3]
半导体测温装置 [P]. 
朱湛宁 ;
请求不公布姓名 ;
姚宝威 ;
陈俊佳 ;
冯祖渊 ;
黄觉辉 .
中国专利 :CN121096909A ,2025-12-09
[4]
半导体测温装置 [P]. 
朱湛宁 ;
请求不公布姓名 ;
姚宝威 ;
陈俊佳 ;
冯祖渊 ;
黄觉辉 .
中国专利 :CN121096906A ,2025-12-09
[5]
光栅测温装置、半导体设备及其测温方法 [P]. 
洪俊华 .
中国专利 :CN119290188A ,2025-01-10
[6]
半导体芯片及其制造方法、半导体装置及其制造方法 [P]. 
谷田一真 ;
根本义彦 ;
高桥健司 .
中国专利 :CN1738027A ,2006-02-22
[7]
半导体装置及其制造方法、半导体基板及其制造方法 [P]. 
三岛康由 .
中国专利 :CN1954418A ,2007-04-25
[8]
半导体基板及其制造方法、半导体装置及其制造方法 [P]. 
高村诚 ;
前川拓滋 ;
森本满 .
中国专利 :CN118727141A ,2024-10-01
[9]
半导体装置组及其制造方法、半导体装置及其制造方法 [P]. 
江间泰示 ;
儿屿秀之 ;
姊崎彻 ;
中川进一 .
中国专利 :CN100349295C ,2005-04-27
[10]
半导体装置制造方法及其半导体装置 [P]. 
矢野尚 ;
林慎一郎 .
中国专利 :CN1638060A ,2005-07-13