LONG-TERM RELIABILITY TESTS FOR INGAAIP VISIBLE LASER-DIODES

被引:30
作者
ISHIKAWA, M
OKUDA, H
ITAYA, K
SHIOZAWA, H
UEMATSU, Y
机构
来源
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS | 1989年 / 28卷 / 09期
关键词
D O I
10.1143/JJAP.28.1615
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:1615 / 1621
页数:7
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