DISTRIBUTION OF IMPLANTED IONS UNDER ARBITRARILY SHAPED MASK EDGES

被引:55
作者
RUNGE, H [1 ]
机构
[1] SIEMENS AG,FORSCHUNGSLAB,D-8000 MUNICH 80,FED REP GER
来源
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1977年 / 39卷 / 02期
关键词
D O I
10.1002/pssa.2210390228
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页数:5
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