DEFECT CHARACTERIZATION IN MONOCRYSTALLINE SILICON GROWN OVER SIO2

被引:19
作者
MCGINN, JT
JASTRZEBSKI, L
CORBOY, JF
机构
关键词
D O I
10.1149/1.2115593
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
摘要
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页数:6
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