STABILITY OF STRAINED QUANTUM-WELL FIELD-EFFECT TRANSISTOR STRUCTURES

被引:51
作者
PEERCY, PS
DODSON, BW
TSAO, JY
JONES, ED
MYERS, DR
ZIPPERIAN, TE
DAWSON, LR
BIEFELD, RM
KLEM, JF
HILLS, CR
机构
关键词
D O I
10.1109/55.20415
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:621 / 623
页数:3
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