TIME-RESOLVED REFLECTIVITY MEASUREMENTS DURING EXPLOSIVE CRYSTALLIZATION OF AMORPHOUS-SILICON

被引:30
作者
BRUINES, JJP [1 ]
VANHAL, RPM [1 ]
BOOTS, HMJ [1 ]
POLMAN, A [1 ]
SARIS, FW [1 ]
机构
[1] FOM,INST ATOM & MOLEC PHYS,1098 SJ AMSTERDAM,NETHERLANDS
关键词
D O I
10.1063/1.97453
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:1160 / 1162
页数:3
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