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一种高可靠度自动芯片测试机链接机构
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021019910.1
申请日
:
2020-06-05
公开(公告)号
:
CN212209420U
公开(公告)日
:
2020-12-22
发明(设计)人
:
卞杰锋
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市工业园区星海街5号星海5号创意园118室
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-22
授权
授权
共 50 条
[41]
一种芯片测试机相机垂直调节机构
[P].
周秋香
论文数:
0
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0
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机构:
深圳市浦洛电子科技有限公司
深圳市浦洛电子科技有限公司
周秋香
;
钟文展
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机构:
深圳市浦洛电子科技有限公司
深圳市浦洛电子科技有限公司
钟文展
.
中国专利
:CN220357612U
,2024-01-16
[42]
一种芯片测试机的坏点标记机构
[P].
许元君
论文数:
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0
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机构:
苏州锜庆精密电子有限公司
苏州锜庆精密电子有限公司
许元君
;
陈英明
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机构:
苏州锜庆精密电子有限公司
苏州锜庆精密电子有限公司
陈英明
.
中国专利
:CN222710085U
,2025-04-04
[43]
一种芯片测试机用的探针机构
[P].
卞杰锋
论文数:
0
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0
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卞杰锋
.
中国专利
:CN212845750U
,2021-03-30
[44]
一种基于芯片测试机的微调机构
[P].
陈荣峰
论文数:
0
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0
陈荣峰
.
中国专利
:CN215449363U
,2022-01-07
[45]
一种芯片测试机的翻转机构
[P].
彭朝亮
论文数:
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彭朝亮
.
中国专利
:CN209606575U
,2019-11-08
[46]
一种芯片测试机的翻转机构
[P].
王玉伟
论文数:
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王玉伟
;
何静
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何静
;
王一凡
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王一凡
;
何贵银
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0
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0
何贵银
.
中国专利
:CN217820706U
,2022-11-15
[47]
一种芯片测试机的调整机构
[P].
陈钢全
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机构:
山东芯诺电子科技股份有限公司
山东芯诺电子科技股份有限公司
陈钢全
;
朱海马
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机构:
山东芯诺电子科技股份有限公司
山东芯诺电子科技股份有限公司
朱海马
;
王成欣
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机构:
山东芯诺电子科技股份有限公司
山东芯诺电子科技股份有限公司
王成欣
;
尚利
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机构:
山东芯诺电子科技股份有限公司
山东芯诺电子科技股份有限公司
尚利
.
中国专利
:CN222461524U
,2025-02-11
[48]
一种LED芯片测试机构
[P].
吴琼
论文数:
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吴琼
;
王强
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王强
;
黎韦
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黎韦
.
中国专利
:CN207336710U
,2018-05-08
[49]
一种自动标记坏点的芯片测试机
[P].
李永刚
论文数:
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李永刚
;
李佳慧
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李佳慧
.
中国专利
:CN217521311U
,2022-09-30
[50]
一种自动标记坏点的芯片测试机
[P].
甘性会
论文数:
0
引用数:
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甘性会
.
中国专利
:CN215375481U
,2021-12-31
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