半导体结构形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910223078.2
申请日
2019-03-22
公开(公告)号
CN111725068A
公开(公告)日
2020-09-29
发明(设计)人
刘中元 赵鹏 马孝田
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L21336
IPC分类号
H01L2978 H01L29423
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
吴敏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[11]
半导体结构形成方法 [P]. 
浦栋 ;
惠利省 ;
杨国文 .
中国专利 :CN112992660B ,2021-06-18
[12]
半导体结构形成方法 [P]. 
青云 .
中国专利 :CN102054784A ,2011-05-11
[13]
半导体结构形成方法 [P]. 
张红伟 ;
孟宪宇 ;
吴宗祐 ;
吴孝哲 ;
林宗贤 .
中国专利 :CN108565219A ,2018-09-21
[14]
半导体结构及半导体结构形成方法 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118486692A ,2024-08-13
[15]
半导体结构及半导体结构形成方法 [P]. 
余振华 ;
苏安治 ;
吴集锡 ;
叶德强 ;
吴仓聚 ;
邱文智 ;
叶名世 .
中国专利 :CN110444482B ,2019-11-12
[16]
半导体结构及半导体结构形成方法 [P]. 
陶大伟 .
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[17]
半导体结构形成方法以及半导体结构 [P]. 
卢经文 .
中国专利 :CN114256153A ,2022-03-29
[18]
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卢仁祥 ;
蔡宗翰 ;
张世勳 .
中国专利 :CN110610989B ,2024-10-29
[19]
半导体结构形成方法以及半导体结构 [P]. 
卢经文 .
中国专利 :CN114256153B ,2024-06-07
[20]
半导体结构形成方法及半导体器件 [P]. 
张志伟 .
中国专利 :CN111696941A ,2020-09-22